日本leimac模擬同軸落射照明高照度高均一性

日本leimac模擬同軸落射照明高照度高均一性

1. 產品核心定位：采用半反射鏡技術實現的疑似同軸落射照明，在緊湊的機身體積內實現了高照度、高發光均一性的雙重優勢，光線可沿相機軸同方向照射，是針對高反光表面精密檢測打造的專用工業視覺照明產品。

2. 核心產品優勢

• 同軸照射適配正反射檢測：借助半反射鏡實現相機軸與光軸同向照射，可通過正反射成像清晰捕捉被測物表面細節，對微劃痕、印字 / 文字的檢測好，尤其適配鏡面、高反光材質的工件檢測；

• 照度大幅提升：相較傳統系列照度顯著提高，不同發光色提升幅度為 10%（綠色）~50%（白色），其中白色光相對照度達 158%，紅色 128%、藍色 115%、綠色 105%，滿足高精度檢測的高照度需求；

• 高均一廣域照射：發光均勻性優異，光線可覆蓋至照射區域周邊，能對更廣的區域進行清晰成像，無需多次調整照明位置即可完成大區域檢測；

• 緊湊型設計：機身結構緊湊，不同型號尺寸適配不同檢測場景，兼顧照明性能與設備安裝的空間需求。

3. 全系列規格參數

• 型號分類：共推出 7 款型號，分兩大電壓系列 —— 基礎款為 DC12V（含 40D/50D/70D），HV 款為 DC24V（含 40D/50D/70D/100D），覆蓋 40/50/70/100 四種核心規格，適配不同檢測精度與范圍需求；

• 發光顏色：全型號均支持白色、紅色、藍色、綠色四種發光色，可根據被測物材質、檢測需求靈活選擇；

• 外形尺寸：同規格的 12V/24V 型號尺寸一致，尺寸隨規格數字遞增同步擴大，寬度從 50mm 到 110mm、奧行從 77mm 到 137mm、高度從 45mm 到 105mm，標準化設計便于設備配套安裝。

4. 核心適用場景：廣泛適用于各類工業精密檢測與尺寸測量，包括高反光工件表面微劃痕檢測、印字 / 文字識別檢測、電路板基板圖案檢測、連接器插針間距測量等，是工業自動化視覺檢測的核心配套照明產品。