日本leimac狹角配光偽同軸落射照明缺陷檢查

日本leimac狹角配光偽同軸落射照明缺陷檢查

1. 產品核心定位：采用改良半反射鏡技術的狹角配光疑似同軸落射照明，在緊湊機身上實現高照度、高發光均一性，且光軸與相機軸同向，是針對超精密工業視覺檢測的專用照明產品，為 IFVA 系列的升級款，核心優化了解像力表現。

2. 核心產品優勢

• 高解像力：改良了所采用的半反射鏡，相較舊款 IFVA 系列解像力大幅提升，能清晰捕捉被測物的細微細節，適配超精密檢測需求；

• 狹角配光 + 同軸照射：采用狹角配光設計，結合半反射鏡實現相機軸同向的同軸照射，光線聚焦性更強，正反射成像效果優異；

• 適配精密正反射檢測：可通過正反射完成檢測，對工件表面微劃痕、印字 / 文字的識別檢測效果突出，能滿足超高精度的細節檢測要求；

• 緊湊化設計：兼顧高照度、高均一性的同時保持機身緊湊，占用空間小，適配各類工業檢測設備的配套安裝。

3. 全系列規格參數

• 型號分類：共推出 4 款型號，分兩大電壓系列 ——DC12V 基礎款（IFVB-20/30）、DC24V HV 款（IFVB-20_HV/30_HV），覆蓋 20/30 兩種核心規格，適配不同精密檢測場景；

• 發光顏色：20 規格型號支持白色、紅色、藍色、綠色四種發光色，30 規格型號支持白、紅、藍三色，可根據被測物材質、檢測需求靈活選擇；

• 外形尺寸：同規格的 12V/24V 型號尺寸一致，IFVB-20 系列為 28mm/60mm/23.5mm，IFVB-30 系列為 40mm/70mm/36mm，整體尺寸小巧，適配緊湊安裝空間。

4. 核心適用場景：廣泛適用于各類超精密工業檢測與尺寸測量，包括高反光工件表面微劃痕檢測、精細印字 / 文字識別、電路板精細圖案檢測、連接器插針微小間距測量等對細節捕捉要求高的場景。