日本 興栄 便攜式半球發射率測量儀 日本 興栄 便攜式半球發射率測量儀

1. 產品核心開發背景

PM-E2 由日本株式會社興栄將 JAXA 宇宙科學研究所航天熱輻射檢測設備民用化改造而來。航天器熱平衡設計必須獲取材料全半球發射率（非單向垂直發射率），本設備解決傳統大型積分球設備笨重、無法現場取樣測試的痛點，實現小型便攜化、低成本高精度檢測。

2. 硬件結構組成

整機分為兩大獨立分體單元：

操作控制部：液晶顯示屏、操作按鍵（MODE/ENT/MEAS/SAVE），內置數據存儲、PC 通訊導出功能；

測量探頭部：內置 60℃恒溫黑體輻射源、內鍍金積分球、熱電堆紅外檢測器，前端檢測窗口直接貼合樣品完成采集。

3. 三大核心產品優勢

（1）高精度半球法測量，貼合航天行業標準

采用積分球半球入射 - 半球反射檢測方案，覆蓋 0.6~42μm 全紅外波段，測量不確定度低至 0.03；區別普通單角度發射率儀，數值匹配航天器、熱工仿真軟件所需全半球輻射參數。

（2）分體超輕便攜，支持現場原位檢測

整機拆分設計，探頭僅 0.7kg，可手持貼合工件、小型試樣直接測量；支持電池供電，實驗室、產線、戶外現場均可使用，無需將樣品裁切送檢。

（3）適配微小樣品，操作門檻低

可快速測量小尺寸試樣、大型設備表面局部區域反射 / 發射性能；配套高低發射率標準膜片一鍵校準，1~3 分鐘出完整數據，支持電腦批量存檔溯源。

（4）常溫無損檢測，適配多類薄膜涂層

無需高溫預處理，常溫下無損檢測薄膜、涂層、金屬基材、復合材料，不會破壞樣品表面鍍層與隔熱層。

4. 標準化校準流程

出廠配套雙標準校準片：

低發射率基準：鍍金反射鏡 ε=0.05；

高發射率基準：黑色 Kapton 薄膜 ε=0.85；

設備自動兩點校準，鎖定 0.03 恒定測量精度，長期使用漂移小。

5. 主流應用行業場景

航空航天領域：衛星、飛行器熱控涂層、隔熱薄膜、散熱基底半球發射率檢測；

光伏新能源：太陽能電池基板、吸熱涂層、光伏背板輻射吸收性能測試；

涂料隔熱行業：耐高溫隔熱漆、建筑節能保溫涂層、紅外隱身材料研發質控；

工業熱能節能：鍋爐、管道保溫材料、高溫設備散熱部件熱輻射性能評估；

高校科研實驗室：熱物理、紅外材料、輻射傳熱課題基礎表征設備。

6. 與傳統大型積分球設備對比

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對比項傳統落地式積分球發射率儀興栄 PM-E2 便攜式檢測儀

設備體積大型柜體，固定實驗室擺放分體手持，總重不足 1kg，可外勤攜帶

測試場景僅裁切樣品進實驗室檢測可直接貼合大型工件原位測量

檢測耗時5~10 分鐘1~3 分鐘快速出數

采購與運維成本造價高、配套恒溫系統輕量化低成本，無需配套輔機

供電限制僅市電固定工位使用適配器 / 電池雙模式，戶外可用

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參數項目詳細技術指標

測量原理半球入射 - 半球反射積分球法，內置 60℃黑體爐、鍍金積分球、熱電堆檢測器

測量物理量半球反射率、全半球發射率 εH

發射率量程0.05～0.95

檢測波長0.6～42μm，覆蓋 300K 黑體 95% 輻射能量

測量不確定度0.03（行業高精度水準）

單次測量時長1～3 分鐘

標準校準樣品低發射率：鍍金 / 鍍鋁鏡 ε=0.05@293K；高發射率：黑色 Kapton 膜 ε=0.85@293K

供電方式DC12V 1A 適配器，支持電池戶外便攜使用

分體結構尺寸操作部：145×82×32mm；測定探頭：125×60×74mm

整機重量操作單元 0.2kg，測量探頭 0.7kg，總重不足 1kg

配套功能基準校準、數值直顯、PC 數據存儲導出

存儲使用環境溫度 10～45℃，濕度≤50% RH