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日本 ARM SYSTEM 生物顯微鏡儀器日本 ARM SYSTEM AR-BS200 系列生物顯微鏡，分為雙目（AR-BS200）與三目（AR-BS200TR）型號，搭載 4X-100X 物鏡，支持 360° 旋轉鏡筒，三目款可連接相機采集圖像，適用于教學實驗、生物觀察與基礎科研場景。

日本 ARM SYSTEM 便攜式金屬顯微鏡儀器日本 ARM SYSTEM AM1040 是一款便攜式金相顯微鏡，搭載可充電 LED 同軸光源，支持 100X/400X 倍率，帶簡易偏光功能，可連接相機采集圖像，整機重 0.75kg，配備鋁制便攜箱，適合現場金屬組織檢測與材料分析。

日本 ARM SYSTEM 三目變倍體視顯微鏡儀器日本 ARM SYSTEM AR-Z81TR-PSN 是一款三目變倍體視顯微鏡，搭載格里諾光學系統，實現 6.5~53X 連續變倍，變倍比 8.1，視場數 24，支持外接成像設備，工作距離 100mm，適合工業質檢、電子維修與科研觀察場景。

日本 ARM SYSTEM 單目偏光顯微鏡儀器日本 ARM SYSTEM AR-BPOL 是一款單目偏光顯微鏡，專為礦物、晶體等各向異性材料的偏光觀察設計，搭載 12V/20W 鹵素照明與阿貝式聚光鏡，支持 360° 旋轉載物臺和可取出式檢偏器，結構緊湊，適合實驗室教學與工業材料分析場景。

日本EMIC 廣范圍光學LED黑光燈日本 EMIC LB-409 是專為長尺寸工件設計的廣范圍 LED 黑光燈，采用無風扇靜音設計，配備紫外線強度調節功能，照度可達 2000μW/cm² 以上，適配圓棒鋼、管材等工件的磁粉探傷檢測。

日本EMIC 高強度對應紫外線強度儀器日本 EMIC UV-D3紫外線強度計，專為黑光燈強度管理設計，適配 355~375nm 波長，測量范圍 0~45mW/cm²，帶峰值保持功能，數字顯示清晰，采用 AA 電池供電，重量輕，適用于磁粉探傷場景的紫外強度檢測。

日本EMIC 光學便攜式LED黑光燈日本 EMIC LB-104 便攜式 LED 黑光燈，專為磁粉探傷設計，采用 355~375nm 紫外 LED，功耗僅為傳統產品的 1/7，中心強度高，可檢測微小傷痕；支持 AC100-240V 供電，手持輕便，適配各類無損檢測場景。

日本 TAITEC 便攜式 簡易 OD 監測儀器日本 TAITEC Miniphoto 620 為便攜式數字比色計，搭載 620nm 固定波長 LED 光源，可實現微生物濁度、吸光度及透光率檢測，儀器設計緊湊便攜，適配實驗室現場快速檢測與數據記錄場景。