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日本 YAMADEN 簡易質構儀電腦數據分析系統TA-TPU2 是適配 TPU-2D/2DL 簡易質構儀的專用電腦分析系統，基于 Windows 系統運行，可自動采集硬度、壓縮強度原始波形，支持坐標自定義、數據放大查看、NO-GO 合格判定，原始數據與解析報表一鍵導出 Excel/Word，自帶在線幫助，適配食品、日化實驗室批量質檢數據處理。

日本 YAMADEN 質構數據解析系統YAMADEN 配套 CA-3305 電腦分析系統，適配全系列蠕變質構儀，全新 Windows 操作界面，兼容舊版 DOS 數據遷移，支持多模式波形繪圖、數據統計、批量導出，可對接辦公軟件，適配食品物性、蠕變、斷裂強度試驗全自動解析，操作直觀，數據輸出便捷。

日本 Pearl 透射式光軸偏心測量儀日本 Pearl 帕爾光學 CM-100α 透射式透鏡偏心測量儀，專測凹凸 / 膠合透鏡光軸偏心角度；搭載導航圖表快速定心，刻度直讀無需換算，10/20 秒雙精度檔位，適配 φ10-50mm、±3mm~ 無窮遠各類鏡頭，7 寸黑白 CCD 成像，輕量化臺式結構，是光學透鏡同軸度精密檢測專用設備。

日本 Pearl 焦平面檢測平行多向準直儀日本 Pearl 珍珠光學 MVC-320 多向視頻準直儀，320mm 焦距 φ65mm 通光口徑，支持無窮遠與 0.3m 有限距離雙光路，配套縫隙測試標板，配合視頻監視器完成攝像機、數碼鏡頭焦平面高精度檢測，機身緊湊 20kg，用于鏡頭組裝、出廠質檢與維修調校。

日本 Pearl 鏡頭檢測平行光管準直儀器日本 Pearl 珍珠光學 CL 系列平行光準直儀，4 款焦距規格可選，輸出標準無窮遠平行光束，搭載 6V30W 鎢絲光源與綠色濾光片，支持星點 / 針孔 / 西門子星可換標板，用于工業鏡頭焦距、像差、無窮遠對焦高精度檢測，適配光學實驗室研發與鏡頭量產產線質檢。

日本 Takano 高野 半導體數字全息檢測儀器日本 Takano 高野數字全息檢測機，依托數字全息成像技術，單次拍攝同步檢出透明材料內部、正反面缺陷；5μm 高分辨率、±10mm 超大景深免對焦，支持線陣 / 面陣雙機型，可穩定檢測 10μm 以上氣泡、脈紋、劃痕、異物，適配光學鏡片、濾光片、蓋板玻璃、透明半導體晶圓量產自動化質檢。

日本 Takano 高野 導電薄膜視覺檢查儀器日本 Takano 高野 HAWKEYES PATTERN 卷對卷圖案薄膜檢測設備，自研 5μm 高精度成像相機，10m/min 穩定檢測 30μm 精細線路；內置偏移補償算法，可識別短路、斷線、針孔、凸起異物等圖案缺陷，兼容觸摸屏、FPC、MLCC 卷材與單片試樣，滿足電子圖案薄膜量產全流程品質管控。

日本 Takano 高野 偏光膜在線瑕疵掃描儀器日本 Takano 高野 HAWKEYES ONE 超高速薄膜外觀檢測裝置，自研線陣相機最高 200m/min 產線適配，5μm 微米級精度識別針孔、姆拉、條紋、氣泡等涂布缺陷；搭載 AI 自動分類算法，配套完整缺陷數據追溯軟件，適配光學、鋰電、電子各類卷材薄膜，實現高速產線全幅品質自動化管控。