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日本 Santec 長景深1310nm光學斷層測定器Santec IVS-2000-LC 是 1310nm 長成像型 SS-OCT 光學斷層測定器，空氣中成像深度可達 18mm 以上，適配帶有高低落差的復雜器件一站式 3D 測量；1310nm 波段可穿透強散射材質，非接觸無損獲取內部分層與三維輪廓，專為手機復合鏡頭、厚層復合材料、凹凸精密零部件深度質檢開發，可配套顯微成像工作站使用。

日本 Santec 高速1310nm光學斷層測定器Santec IVS-2000-HS 是 1310nm 高速型 SS-OCT 光學斷層測定器，100kHz 超高掃描速率，大幅縮短產線單次檢測耗時；紅外波段易穿透強散射工件，非接觸無損成像，適配工業自動化在線質檢場景，可完成器件微結構成像、多層薄膜厚度測量、內部缺陷實時篩查，可配套高速掃描激光模組搭建一體化在線檢測工作站。

日本 Santec 高分辨率1310nm光學斷層測定器Santec IVS-2000-HR 是 1310nm 波段旗艦高分辨 SS-OCT 光學斷層測定器，IVS 系列最高分辨機型，體內分辨率＜5μm，20kHz 高速掃描；紅外波段易穿透強散射樣品，無損無標記成像，適配化妝品皮膚機理研究、醫藥制劑檢測、工業器件微結構與薄膜厚度測量，配套高速掃描激光與顯微載物臺，一體化集成成像平臺。

日本 HORIBA 堀場 全自動晶圓薄膜量測系統HORIBA Xtrology 是高度可定制化全自動晶圓薄膜量測平臺，可集成橢圓偏振、拉曼、光致發光三類光學傳感器，單臺設備完成薄膜厚度、光學參數、結晶度、材料成分、缺陷與應力檢測。兼容 FOUP/SMIF 自動化晶圓傳輸，適配硅基與化合物半導體先進制程，搭載全套自研軟硬件。

日本 YAMADEN 簡易質構儀電腦數據分析系統TA-TPU2 是適配 TPU-2D/2DL 簡易質構儀的專用電腦分析系統，基于 Windows 系統運行，可自動采集硬度、壓縮強度原始波形，支持坐標自定義、數據放大查看、NO-GO 合格判定，原始數據與解析報表一鍵導出 Excel/Word，自帶在線幫助，適配食品、日化實驗室批量質檢數據處理。

日本 YAMADEN 質構數據解析系統YAMADEN 配套 CA-3305 電腦分析系統，適配全系列蠕變質構儀，全新 Windows 操作界面，兼容舊版 DOS 數據遷移，支持多模式波形繪圖、數據統計、批量導出，可對接辦公軟件，適配食品物性、蠕變、斷裂強度試驗全自動解析，操作直觀，數據輸出便捷。

日本 Pearl 透射式光軸偏心測量儀日本 Pearl 帕爾光學 CM-100α 透射式透鏡偏心測量儀，專測凹凸 / 膠合透鏡光軸偏心角度；搭載導航圖表快速定心，刻度直讀無需換算，10/20 秒雙精度檔位，適配 φ10-50mm、±3mm~ 無窮遠各類鏡頭，7 寸黑白 CCD 成像，輕量化臺式結構，是光學透鏡同軸度精密檢測專用設備。

日本 Pearl 焦平面檢測平行多向準直儀日本 Pearl 珍珠光學 MVC-320 多向視頻準直儀，320mm 焦距 φ65mm 通光口徑，支持無窮遠與 0.3m 有限距離雙光路，配套縫隙測試標板，配合視頻監視器完成攝像機、數碼鏡頭焦平面高精度檢測，機身緊湊 20kg，用于鏡頭組裝、出廠質檢與維修調校。