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日本seiwaopt硅晶圓背面圖案觀察無損檢查燈NIR版400-1100nm，AIR版擴展至1700nm? 高穿透性：800nm/1000nm峰值波長匹配硅材料透射特性? 無損檢測：不破壞樣品即可進行內部檢查? 精密調光：0.1%-100%光強調節，適應不同檢測需求
產品型號：SIS-15-AIR廠商性質：經銷商更新時間：2026-02-25訪 問 量：208
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日本seiwaopt硅晶圓背面圖案觀察無損檢查燈
日本seiwaopt硅晶圓背面圖案觀察無損檢查燈
| 規格項目 | SIS-150-NIR | SIS-150-AIR |
|---|---|---|
| 額定輸入電壓 | AC100-240V | AC100-240V |
| 額定輸入頻率 | 50/60Hz | 50/60Hz |
| 照明方式 | 直流點燈方式 | 直流點燈方式 |
| 照射波長 | 400～1100nm | 400～1700nm |
| 峰值波長 | 800nm | 1000nm |
| 光強調節 | 輸出電壓可變（DC2V～15V），光強0.1%～100%可調 | 同左 |
| 保護功能 | 過流保護（電源重啟恢復）、過溫保護（自動恢復） | 同左 |
| 冷卻方式 | 強制風扇冷卻 | 強制風扇冷卻 |
| 工作溫度/濕度 | 0℃～40℃ / 20%～80%RH（無結露） | 同左 |
| 外形尺寸 | W124 × H165 × D224mm（不含突起） | 同左 |
| 重量 | 約2.7kg | 約2.7kg |
| 光導要求 | 標準規格 | 需專用耐熱光導 |
| 功能 | 說明 |
|---|---|
| 燈斷線信號輸出 | 集電極開路/發射極開路 |
| 模擬調光 | DC0～5V電壓輸入控制 |
| 遠程開關 | DC5V施加即可關閉燈光 |
| 行業 | 具體應用 |
|---|---|
| 半導體制造 | Si晶圓內部雜質、微裂紋檢測；背面電路圖案觀察 |
| 食品/農產品 | 水果糖度分布、水分含量無損檢測；蟲害及成熟度分析 |
| 制藥/生物 | 藥片成分均勻性檢測；生物組織熒光成像 |
| 鋼鐵/金屬 | 金屬裂紋、氣孔、夾雜物檢測；熱處理效果分析 |
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