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日本 INTECS 大功率大光斑工業檢查燈INTECS UIH 系列強光檢查燈采用 SCR 調光控制，亮度可調范圍超 10:1，風扇強制風冷散熱，通過高聚光強光凸顯工件劃痕、異物、氣泡缺陷，適配手機、鏡頭、硬盤、晶圓等精密件質檢；三檔功率覆蓋小到大尺寸檢測場景，具備過熱保護，運行穩定適配產線長期作業。

日本 INTECS 小型高亮度表面缺陷檢查燈INTECS UIH 系列強光檢查燈采用 SCR 調光控制，亮度可調范圍超 10:1，風扇強制風冷散熱，通過高聚光強光凸顯工件劃痕、異物、氣泡缺陷，適配手機、鏡頭、硬盤、晶圓等精密件質檢；三檔功率覆蓋小到大尺寸檢測場景，具備過熱保護，運行穩定適配產線長期作業。

日本kenko-tokina表面/內部損傷檢查鹵素燈 連續可變波長輸出，非固定單波長，支持外部設備命令直接控制，便于系統集成。用于半導體、食品、醫藥、材料等多行業

日本kenko-tokina食品醫藥品異物檢測鹵素燈 通過測量物質對光的反應差異，即任意波長下物質的反射光、透射光、吸收光的不同，實現： 異物混入檢測 表面/內部損傷檢查 內部狀態觀察

日本seiwaopt硅晶圓背面圖案觀察無損檢查燈 NIR版400-1100nm，AIR版擴展至1700nm ? 高穿透性：800nm/1000nm峰值波長匹配硅材料透射特性 ? 無損檢測：不破壞樣品即可進行內部檢查 ? 精密調光：0.1%-100%光強調節，適應不同檢測需求

Npinet樹脂氣泡填充不均紅外透射檢查鹵素燈 利用 900 nm–1 700 nm 波段，將被檢物對水分/有機物的特征吸收帶可視化，可發現可見光與肉眼難以捕捉的內部異物、缺陷、分層、圖案異常等，廣泛用于食品在線異物檢測、硅晶圓內部缺陷檢查等。

日本kotani長臂型可調光有機EL照明檢查燈 低反射 | 超薄面發光 | 折疊即走 產品亮點 低反射面發光 與點光源LED相比，有機EL面發光大幅減少金屬鏡面反射，劃痕、凹坑、異物一目了然。 超薄&省空間 光源厚度僅≈10mm，折疊臂設計，可夾可折，桌面/工位即刻安裝，眼前無壓迫感。

日本kotani汽車零件劃痕毛刺EL照明檢查燈 低反射面發光 與點光源LED相比，有機EL面發光大幅減少金屬鏡面反射，劃痕、凹坑、異物一目了然。 超薄&省空間 光源厚度僅≈10mm，折疊臂設計，可夾可折，桌面/工位即刻安裝，眼前無壓迫感。