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日本NCC半導體無塵室落塵監測儀自動計數以非常緩慢的速度下落并堆積起來。落塵計數器是使用樣品收集板（4英寸晶片），將落下附著于收集板上的粉塵進行進行分級計數的裝置。測定結果可顯示并保存在電腦上。使用晶片收集灰塵，所以只要是能放下晶片的地方就都可以進行測量。
產品型號：DTSP10-03廠商性質：經銷商更新時間：2026-02-28訪 問 量：190
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日本NCC半導體無塵室落塵監測儀自動計數
日本NCC半導體無塵室落塵監測儀自動計數
落塵計數器是什么？
落塵計數器不是測量浮游塵而是測量附著粉塵的特殊測量儀器。可對10μm以上的粗大粒子進行分級計量。無塵室中的產品上附著的灰塵，異物，造成不良的原因多為落下塵埃。其特征是以非常緩慢的速度下落并堆積起來。落塵計數器是使用樣品收集板（4英寸晶片），將落下附著于收集板上的粉塵進行進行分級計數的裝置。測定結果可顯示并保存在電腦上。使用晶片收集灰塵，所以只要是能放下晶片的地方就都可以進行測量。
使用晶片收集灰塵、對10μm～100μm粗大粒子進行分級計數。
還能解決你的這些煩惱！！
? 用粘性膠帶采樣，然后在顯微鏡下觀察計數，效率低下，費時間。
? 想調查裝置內付著的塵埃但是找不到好的測定方法。
? 想調查高溫的爐內、運行中的傳送帶等上面附著的灰塵，卻沒有好的測定方法。
使用2英寸晶片 (直徑50mm)能調查 4英寸 (直徑100mm)無法采樣的狹小空間。只需準備專用的支架和晶片即可。
落塵計數器必須安裝在無塵環境中
在100級左右的無塵室中設置、測定或清潔晶片可以防止灰塵附著影響測定結果。
使用晶片專用工具清潔后，晶片可以多次循環利用。
| DTSP10-02 | DTSP10-03 | ||
| 最小可測粒徑 | 10μm | 10μm | |
| 粒徑區分 | 10μm、30μm 50μm、100μm | 10μm、30μm 50μm、100μm 11～99μm范圍內可以設定數值 | |
| 晶片尺寸 | 4英寸 | 4英寸 | 2英寸 |
| 最大測試范圍 | Ф80mm | Ф80mm | Ф30mm |
| Trimming功能 | 有 | 有 | 無 |
| 切換顯示 | 無 | 有（區分表示可能） | |
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