日本 NSK 光切斷法自動對焦高精度測量儀

日本 NSK 光切斷法自動對焦高精度測量儀日商精密光學 AF 深度高度測量機，采用光切斷法與自動對焦技術，實現 0.1μm 高精度測量。搭配彩色監視器實時觀測，支持自動追蹤與手動測量，適用于芯片、PCB、模具等微小臺階、深度與高度差檢測。設備結構穩定、成像清晰，廣泛用于精密制造與材料檢測領域。

產品型號：AF-Micron 系列
廠商性質：經銷商
更新時間：2026-03-28
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聯系電話：13823182047

日本 NSK 光切斷法自動對焦高精度測量儀 日本 NSK 光切斷法自動對焦高精度測量儀

這款儀器由日商精密光學株式會社打造，整機采用米白色工業級機身，結構緊湊穩固。核心光學系統搭載 13 英寸液晶彩色監視器與彩色電視攝像機，可實時呈現被測物表面的狹縫斷面形貌；機身配備 XY 軸移動平臺與操作控制盒，搭配數字線性表顯示單元，直觀呈現測量數值。光源模塊與光學鏡頭組分離設計，便于維護與光路調整。

? 核心性能優勢

它是結合光切斷法狹縫觀察與點光源自動對焦（AF）追蹤的新型測量設備，通過紅色激光點自動捕捉階差變化，Z 軸快速追隨實現 0.1μm 分辨率的數字顯示。AF 驅動具備高連續追蹤性，可在 XY 軸移動平臺上完成高效測量，重復精度控制在 ±1μm 以內；關閉自動開關后，可切換為手動微米級測量模式，兼顧自動化與手動操作需求。光切斷仰角除標準 90° 外，還可定制 30°、60°、120°，適配不同測量場景。

??? 材質與工藝

機身采用高強度合金鑄造，保證長期使用的抗震性與結構穩定性；光學鏡頭選用高透光率玻璃并經多層鍍膜處理，提升成像對比度；Z 軸驅動采用精密絲杠與導向機構，消除背隙確保移動平滑；投射狹縫采用高精度蝕刻工藝，標準配置為 10μm 半透半反鏡型，可選 30μm、80μm 規格，滿足不同精度需求。

?? 技術參數

觀察方式：光切斷方式（狹縫光學系統深度高度測量）
物鏡：標配 10 倍，可選 5 倍、20 倍
Z 軸驅動：點光源 AF 連續追蹤方式（離線可手動測量）
投射狹縫：10μm 半透半反鏡型（可選 30μm、80μm）
Z 軸測量：數字線性表 0.1μm 讀數
重復精度：±1μm 以內
光源：2 類 350mW 半導體激光器、150W 鹵素燈（配 1m 光纖導管）
影像系統：彩色電視攝像機 + 13 英寸液晶彩色監視器

?? 應用場景

廣泛應用于精密制造、半導體、電子元器件、材料檢測等領域，可測量芯片封裝臺階高度、PCB 線路溝槽深度、精密模具表面差、陶瓷 / 玻璃脆性材料裂紋等，也適用于科研機構的材料表面形貌分析與質量管控。

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日本 NSK 光切斷法自動對焦高精度測量儀

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