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HINDS INSTRUMENTS 雙折射成像顯微鏡儀器美國 HINDS INSTRUMENTS Exicor® 微型成像儀™雙折射成像顯微鏡，延遲重復性≤0.5nm，支持紅 / 橙 / 綠 / 藍多波長測量，最高 0.18μm 分辨率，15 秒快速成像，適配生物結構、玻璃、晶體等有機 / 無機樣品，為學術與工業界提供精準的雙折射評估方案。
產品型號：Exicor® 成像儀™廠商性質：經銷商更新時間：2026-04-10訪 問 量：138
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HINDS INSTRUMENTS 雙折射成像顯微鏡儀器 HINDS INSTRUMENTS 雙折射成像顯微鏡儀器
超高測量精度：延遲重復性≤0.5nm（3 sigma），可精準捕捉納米級雙折射變化，滿足低級別雙折射測量的需求。
多波長靈活測量：支持紅、橙、綠、藍四種光源波長，適配不同樣品的光學特性，拓展測量場景。
寬測量范圍：延遲測量范圍 2nm - 0.5λ（單色），相位解包裹后可達 3500nm，覆蓋從微小應力到厚樣品的全場景測量。
高速成像效率：標稱測量速度 15 秒，大幅提升檢測效率，適配批量樣品檢測需求。
多倍率光學配置：標配 2/5/10/20 倍物鏡，分辨率從 2μm 到 0.18μm 可調，視場覆蓋 4.941×4.123mm 到 0.437×0.364mm，滿足從宏觀到微觀的全尺度觀測。
高分辨率成像系統：搭載 2464×2056px、12 位圖像傳感器，成像細節清晰，數據精準可靠。
| 參數項 | 規格詳情 |
|---|---|
| 品牌 | HINDS INSTRUMENTS（美國） |
| 產品型號 | Exicor® 微型成像儀™ |
| 延遲重復性 | ≤0.5 nm (3 sigma) |
| 光源波長 | 紅色、橙色、綠色、藍色 |
| 延遲測量范圍 | 2 nm - 0.5λ (1 色)，相位解包裹至 3500 nm |
| 測量速度 | 標稱 15 秒 |
| 底座尺寸 | 36.1 cm × 26.5 cm |
| 設備高度 | 77.1 cm |
| 工作臺行程 (x,y) | 75 mm，56 mm |
| 圖像傳感器 | 2464 px × 2056 px，12 位 |
| 物鏡倍率與參數 | 2 倍：分辨率 2μm，視場 4.941×4.123mm5 倍：分辨率 0.74μm，視場 1.83×1.53mm10 倍：分辨率 0.36μm，視場 0.876×0.731mm20 倍：分辨率 0.18μm，視場 0.437×0.364mm |
生命科學：生物組織結構（如植物根莖、生物組織切片）雙折射測量，研究細胞結構與力學特性。
材料科學：玻璃、晶體、光學薄膜等無機 / 有機材料的雙折射、應力分布檢測。
工業質控：光學元件、半導體材料的應力與缺陷分析，保障產品性能。
學術科研：高校、科研院所的材料物理、生物力學等領域的基礎研究。
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