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王子計測機器 OSI 位相差測定裝置儀器日本王子計測 OSI KOBRA-HB 系列位相差測定裝置，覆蓋 2nm~20000nm 超寬位相差量程，采用平行尼科爾回轉法等多種檢測方式，LED 光源免維護，兼容 KOBRA-W 系列夾具，大開口設計易操作，緊湊機身適配實驗室，用于薄膜、光學材料的位相差、配向角高精度檢測。
產品型號：KOBRA-HB 系列廠商性質：經銷商更新時間：2026-04-10訪 問 量：135
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王子計測機器 OSI 位相差測定裝置儀器 王子計測機器 OSI 位相差測定裝置儀器
超寬測量范圍：覆蓋從 ** 超低位相差（2nm 以下）到超高位相差（20000nm）** 的全量程，適配從超薄薄膜到厚板材的各類樣品。
高精度穩定檢測：針對配向角實現高精度測定，同時具備優異的長期穩定性，保障檢測數據的準確性與重復性。
低維護成本設計：標配 LED 光源，無需更換光源燈泡，大幅降低日常維護成本與耗材消耗。
高兼容性：與 KOBRA-W 系列共享樣品夾具、可選治具，可直接沿用現有配件，降低設備升級成本。
人性化操作設計：相比 KOBRA-W 系列擁有更大的開口部，樣品取放更便捷，操作體驗大幅提升。
緊湊機身設計：尺寸遠小于 KOBRA-W 系列，大幅節省實驗室空間，適配各類實驗室布局。
| 核心參數 | 規格詳情 |
|---|---|
| 測定方式 | 平行尼科爾回轉法、回転偏光子法、平行尼科爾分光法 |
| 測定波長 | 450、500、550、590、630、680nm；400~800nm（分光模式） |
| 樣品尺寸 | 垂直入射測定：30mm 角以上；入射角依存性：30mm~40×50mm、厚度 3mm 以下 |
| 測定面積 | 33mm2（5.8mm 角受光面積）；φ0.8mm（分光模式） |
| 位相差量程 | 2nm 以下～20000nm |
| 設備尺寸（對比 KOBRA-W） | 幅 300mm（W 系列 500mm）、奧行 700mm（W 系列 830mm）、高さ 500mm（W 系列 700mm） |
顯示面板行業：偏光片、相位差膜、液晶面板的位相差、配向角檢測，保障顯示畫質與光學性能。
光學材料行業：光學薄膜、高分子薄膜、透明板材的偏光特性、分子取向評估。
包裝印刷行業：包裝薄膜的位相差檢測，優化印刷與包裝工藝。
科研研發領域：新材料開發、光學特性研究、工藝優化的核心檢測設備。
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