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FLOVEL 環形照明低倍率雙面光學顯微鏡系統日本 FLOVEL TOMOS-50R1 雙面顯微鏡系統，搭載正位 + 倒立雙鏡筒、200 萬像素彩色 / 黑白雙相機，環形 LED 同軸照明，支持 1 倍視野下雙面廣角拍攝，±10mm XY 平臺，30mm Z 行程，USB3.0 輸出，Windows11 系統，可同步觀測正反兩面，適配電子元件、PCB、LED 等工件的位置偏移、劃傷檢測，是電子制
產品型號：TOMOS-50R1廠商性質：經銷商更新時間：2026-04-10訪 問 量：144
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FLOVEL 環形照明低倍率雙面光學顯微鏡系統 FLOVEL 環形照明低倍率雙面光學顯微鏡系統
雙鏡筒雙光路設計：正位 + 倒立雙 0.5 倍鏡筒，搭配 2 倍物鏡，實現 1 倍拍攝視野下的雙面廣角同步拍攝，一次裝夾完成正反兩面全檢測，無需翻轉工件。
高清晰成像：2 個 200 萬像素相機（彩色 / 黑白可選），細節還原精準，彩色模式適配外觀缺陷、劃傷檢測，黑白模式適配高精度尺寸測量。
環形同軸照明系統：2 組白色 LED 環形 / 同軸聚光燈，消除工件表面陰影與反光，確保明暗均勻，清晰呈現微小劃傷、印刷標記等細節。
大行程調節：Z 軸最大 30mm 粗微調行程，適配不同高度工件；±10mm XY 平臺移動范圍，可靈活調整觀測位置，適配多規格工件。
便捷數據傳輸：USB3.0 高速接口，直連電腦，數據傳輸穩定，適配自動化檢測流程。
一體化控制系統：搭載 Windows11 Pro 系統，豎屏液晶顯示器正反雙畫面同步顯示，操作直觀，支持圖像歸檔、測量分析。
正反面位置偏移測量：自動檢測 PCB、印刷品、LED 芯片、透鏡等工件的對位標記、通孔的正反面位置偏差，生成合成圖像，量化偏移量。
正反面同時觀察與劃傷檢測：同步觀測電容、電阻、連接器、鏡頭等電子元件的正反兩面，識別劃痕、印刷不良、外觀缺陷，實現全檢無遺漏。
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