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日本ベテル ハドソン 熱擴散成像檢查設備日本ベテル ハドソン TSI-2 熱成像儀，采用激光加熱與紅外成像技術，可通過熱可視化評估樣品內部空隙、裂紋與界面密合性，支持熱特性與缺陷分析，是材料熱性能與無損檢測的高效工具。
產品型號：TSI-2廠商性質：經銷商更新時間：2026-04-29訪 問 量：91
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日本ベテル ハドソン 熱擴散成像檢查設備 日本ベテル ハドソン 熱擴散成像檢查設備
熱可視化缺陷檢測技術
可通過熱成像技術可視化樣品內部的空隙、裂紋與不均勻性，評估界面密合性與熱擴散性，適用于金剛石、DLC 涂層等高導熱材料的界面性能檢測，為電子設備功耗優化與節能設計提供數據支撐。
激光加熱與高性能紅外成像
配備激光加熱功能，搭配宏觀拍攝光學系統（分辨率約 20μm）與高性能紅外相機（7.5μm~13.5μm 波段），結合降噪技術，可清晰捕捉樣品表面的熱信號變化，實現高精度成像分析。
靈活的解析與控制功能
支持點 / 領域解析、位相解析模式，可輸出頻率、距離、振幅、相位、亮度及圖像數據；配備溫度調制加熱器、控制與分析軟件，可實現樣品熱特性的全面評估。
寬范圍樣品與環境適配
可測量樹脂、玻璃、陶瓷、金屬等多種材料，支持室溫～250℃的測試環境，測定周波數范圍 0.1~10Hz，適配不同工藝條件下的樣品檢測需求。
| 項目 | 參數說明 |
|---|---|
| 型號 | TSI-2 |
| 測量對象 | 樣品缺陷、不均勻性、紅外輻射亮度、簡易溫度、熱特性 |
| 解析模式 | 點 / 領域解析、位相解析 |
| 輸出數據 | 頻率、距離、振幅、相位、亮度、圖像數據 |
| 光學系統 | 宏觀拍攝光學系統（分辨率約 20μm） |
| 紅外相機 | 高性能紅外相機（7.5μm~13.5μm） |
| 測量環境 | 室溫～250℃ |
| 測定周波數 | 0.1~10Hz |
| 附件配置 | 溫度調制加熱器、控制與分析軟件、PC |
電子設備研發與質量管控：評估設備內部界面熱擴散性，優化功耗設計，檢測焊點、涂層的密合性缺陷。
高導熱材料檢測：金剛石、DLC 涂層等材料的界面熱性能與缺陷分析，防止熱量流失。
材料無損檢測：陶瓷、金屬、樹脂等樣品的內部空隙、裂紋與不均勻性評估。
工藝優化驗證：不同工藝條件下材料界面密合性與熱性能變化的對比測試，為工藝改進提供支撐。
熱可視化缺陷檢測：通過紅外成像實現缺陷與界面密合性的直觀評估，適配高導熱材料檢測需求。
高精度成像分析：搭配高分辨率光學系統與紅外相機，結合降噪技術，確保成像與數據的準確性。
靈活的解析與控制：支持多種解析模式與數據輸出，適配自動化測試與多場景分析需求。
寬范圍樣品適配：覆蓋多種材料類型與測試環境，滿足研發與質量管控的多樣化需求。
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