產品概述

核心特點

• 高速掃描，大幅提升檢測效率

  配備新開發的 HT 高通量掃描儀，表面形貌觀察速度比傳統機型快 5 倍以上，顯著縮短樣品分析周期；掃描儀支持輕松更換，可兼容傳統型號的掃描頭，實現設備性能升級與成本控制的平衡。
• 自動優化，降低操作門檻

  搭載 NanoAssist 自動觀察條件優化功能，用戶僅需設置觀察范圍，設備即可自動完成探針參數調整與掃描條件設置，無需依賴操作員經驗，實現標準化、可重復的觀察結果。
• 納米級物性映射，高效穩定

  可選配 Fast 納米 3D 制圖功能，相比傳統機型大幅縮短物性映射時間，支持對樣品表面硬度、彈性模量、電流、電位等多種物性的同時測量，且映射過程更穩定，為材料力學與電學特性分析提供可靠數據。
• 直觀的 3D 可視化與高級分析功能

  支持鼠標操作實現圖像的旋轉、縮放與 Z 軸倍率調整，通過紋理疊加功能將物性信息映射到形貌圖像上；內置 3D 截面形狀分析工具，可快速獲取樣品截面尺寸、粗糙度等關鍵參數，提升數據解讀效率。
• 豐富的測量模式與擴展性

  除基礎形貌成像外，設備支持多種測量模式，可獲取樣品表面電流、電位、硬度、粘彈性等物性信息；開放式軟件平臺支持自定義分析腳本，滿足用戶個性化研究需求。

適用場景

• 材料科學：聚合物薄膜、納米材料的表面形貌與力學特性分析

• 半導體行業：晶圓表面粗糙度、缺陷檢測及工藝過程監控

• 生物醫學：生物大分子、細胞表面形貌觀察與生物力學研究

• 涂層與薄膜：涂層厚度、均勻性及界面結構表征