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日本 OmniPhysics 分析用手動探針設備日本 OmniPhysics SE-2108 是一款分析用手動探針裝置，專為半導體器件分析測試設計，可外接溫控裝置實現 - 40℃~250℃高低溫測試，支持 8 臺機械手安裝，兼容激光裝置與多種配件，是精密電學分析的專業設備。
產品型號：SE-2108廠商性質：經銷商更新時間：2026-05-21訪 問 量：98
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日本 OmniPhysics 分析用手動探針設備 日本 OmniPhysics 分析用手動探針設備
| 參數項 | 規格 |
|---|---|
| X-Y 平臺移動量 | X 軸：205mm、Y 軸：205mm |
| 樣品臺旋轉 | 粗調：180°，微調：10° |
| 探針載臺 Z 軸移動量 | 10mm |
| 探針載體上下行程 | 接觸～分離：300μm |
| 顯微鏡移動范圍 | X/Y 均為 25mm；UP/DOWN 移動量：200mm |
| 機械手搭載數 | 最大 8 臺 |
| 互鎖機構 | 氣動互鎖 |
| 防震機構 | 標準配置 |
半導體器件分析：高低溫電學特性測試、器件失效分析、工藝驗證
材料研究：半導體材料溫變特性表征、激光誘導電學測試
精密測試實驗室：多探針同步測試、復雜工況下的器件性能評估
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