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Hisol 珀爾帖水冷式加吸熱夾具設備HPE 系列是 Hisol 推出的寬溫區珀爾帖水冷式加吸熱夾具，控溫范圍 - 40℃~+125℃，支持 4/6 英寸晶圓，需搭配冷卻水循環裝置使用，具備優異的升降溫響應性，可滿足高低溫段的高精度溫度特性測試需求。
產品型號：HPE 系列 HPE40-40廠商性質：經銷商更新時間：2026-05-26訪 問 量：105
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Hisol 珀爾帖水冷式加吸熱夾具設備 Hisol 珀爾帖水冷式加吸熱夾具設備
寬溫區控溫能力
控溫范圍為 - 40℃~+125℃，可覆蓋從低溫到中高溫的測試場景，滿足半導體器件在不同溫度環境下的性能驗證需求。
珀爾帖溫控技術，響應迅速
采用珀爾帖元件作為加熱與冷卻源，升溫、降溫響應性優異，控溫精度高，能為晶圓提供穩定均勻的溫度環境，保障測試數據的準確性。
水冷式散熱，適配高負載工況
珀爾帖單元采用水冷散熱，需搭配冷卻水循環裝置使用，散熱效率更高，可支持長時間高低溫循環測試，適配高負載、連續運行的測試場景。
多尺寸適配，覆蓋主流晶圓規格
提供 4 英寸（HPE40-40）和 6 英寸（HPE60-40）兩種型號，可適配主流晶圓尺寸，滿足不同測試場景的需求。
4/6 英寸半導體晶圓的寬溫區溫度特性測試
探針臺設備的高低溫段測試配件
器件可靠性測試中的溫度循環、高低溫老化測試
寬溫區環境下的晶圓級性能驗證與失效分析
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