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Hisol 低噪聲低漏電室溫晶圓夾具設備Hisol HC/HTC 系列室溫晶圓夾具,專為半導體晶圓室溫測試設計,提供標準同軸 HC 系列與低噪聲三軸 HTC 系列,支持 2-12 英寸晶圓,可實現器件背面偏壓施加與垂直器件測量,適配探針臺測試場景。
產品型號:HC/HTC 系列
廠商性質:經銷商
更新時間:2026-05-26
訪 問 量:97
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Hisol 低噪聲低漏電室溫晶圓夾具設備 Hisol 低噪聲低漏電室溫晶圓夾具設備
雙系列設計,適配不同測試需求
提供標準同軸型 HC 系列,以及適用于低噪聲、低漏電測量的三軸型 HTC 系列,可滿足常規測試與高精度弱信號測試的不同需求。
全尺寸晶圓適配
型號覆蓋 2 英寸至 12 英寸晶圓(HC20/40/60/80/120、HTC20/40/60/80/120),可適配主流晶圓規格,滿足不同尺寸器件的測試需求。
支持偏壓施加與垂直器件測量
可實現對背柵等器件背面施加偏壓,并支持垂直器件的測量,為器件電學特性測試提供靈活的配置能力。
高穩定性與低干擾設計
三軸系列采用低噪聲、低漏電設計,有效降低測試干擾,保障弱信號測試數據的準確性與穩定性。
2-12 英寸半導體晶圓的室溫電學特性測試
探針臺設備的標準測試卡盤配件
低噪聲、低漏電器件的高精度測試場景
背柵器件、垂直器件的偏壓施加與性能驗證