日本 Takano 高野 偏光膜視覺在線檢測設備 日本 Takano 高野 偏光膜視覺在線檢測設備

1. 產品概述

HAWKEYES ELITE 是 Takano 自研高速線陣相機薄膜全幅檢測系統(tǒng)，專為無基材各類薄膜產線打造，支持卷對卷連續(xù)產線、離線單張基板兩種機型配置；最高 200m/min 高速走膜，最高 40μm 檢測分辨率，搭載多通道并行圖像處理算法，一次性識別薄膜全品類微米級涂布缺陷，適配光學、電子、能源、基材全品類薄膜，配套完整缺陷數(shù)據(jù)追溯統(tǒng)計軟件，支持功能定制開發(fā)。

2. 硬件整機規(guī)格

表格

硬件項目參數(shù)詳情

有效像素線陣相機8000 像素 / 16000 像素雙規(guī)格可選

控制統(tǒng)計工控機FA 工業(yè)規(guī)格 PC

產線走速檔位100m/min（20μm 分辨率）、200m/min（40μm 分辨率）

成像光學自研工業(yè)鏡頭匹配專用透射 / 反射光源

3. 配套軟件功能

缺陷檢測處理：缺陷判定、噪聲抑制、空間濾波、缺陷 Map 可視化

數(shù)據(jù)追溯查看：缺陷坐標清單、缺陷原圖存儲、不良趨勢分析、批量統(tǒng)計報表

定制拓展：界面 UI 調整、新增檢測算法、產線對接交互功能定制

4. 可檢出全品類薄膜缺陷

穴類缺陷：涂布凹坑、針孔

涂布條紋缺陷：涂布橫紋、輥印條紋、褶皺

凹凸異物缺陷：表面臟污、劃傷、氣泡、顆粒凸起

姆拉膜厚不均缺陷：涂布厚薄姆拉、刮痕色差

最小可穩(wěn)定檢出 5μm 細微瑕疵，全幅無漏檢。

5. 四大適用薄膜品類

光學薄膜

偏光膜、擴散膜、相位膜、防反射膜、TAC/PET 基材膜

電子元件薄膜

MLCC 離型膜、CCL/FCCL 基材、DFR 干膜、絕緣膜、粘接膜

新能源薄膜

鋰電池隔膜、銅鋁金屬箔

通用樹脂基材

PET、PI、各類涂布樹脂薄膜

6. 兩大核心產品特長

靈活產線適配，兩種機型方案

卷對卷在線機型適配高速連續(xù)涂布產線；離線單張機型適配小樣 / 大尺寸基板抽檢，一套硬件架構覆蓋不同生產模式。

高野原創(chuàng)多算法并行圖像處理

多缺陷同步并行運算，無需分段掃描，高速走膜下穩(wěn)定識別黑點、姆拉、條紋、劃傷、凹凸異物等數(shù)十種瑕疵，降低誤判漏檢率。

五、適用行業(yè)客戶

光學膜材廠、鋰電池隔膜制造企業(yè)、覆銅板 CCL 廠商、MLCC 離型膜工廠、顯示基材涂布企業(yè)、柔性電子 PI 膜生產廠家。

六、缺陷成像檢測效果

設備同步輸出三層圖像：原始濃淡灰度圖、算法預處理圖、缺陷標記判定圖；直觀標注缺陷位置、尺寸、類型，自動生成缺陷分布圖，對接產線剔除機實現(xiàn)不良自動分揀。