日本富士工 FUJIWORK 氣動薄膜測厚儀 日本富士工 FUJIWORK 氣動薄膜測厚儀

HKT-Master0.1BD/BDL 為富士工新一代標準緊湊型薄膜測厚儀，采用氣動勻速下壓機構，消除人為操作手法帶來的測量偏差；0.1μm 標準分辨率，0~500μm 通用寬量程，測試壓力 0.14N，適配超薄易形變軟膜；配備獨立 M3 高清觸控數顯單元，數據通過 USB 接口直連電腦采集存儲，標配 φ50 陶瓷測量臺面、R30 超硬球面測頭，BDL 型號加大工作臺面，適合寬幅薄膜試樣檢測，廣泛用于鋰電隔膜、光學 PET、包裝薄膜、柔性涂層實驗室來料質檢。

五、核心七大優勢

氣動恒速下壓，測量無人工誤差

氣缸驅動測頭勻速下落，不受操作人員按壓力度、速度影響，重復精度穩定 0.2μm，同一樣品復測數值波動極小。

0.1μm 精密分辨率，通用薄膜全覆蓋

最小讀數 0.1μm，兼顧超薄涂層與數百微米復合膜，滿足鋰電、光學、塑膠全行業常規厚度檢測。

 0.14N 超低測試壓力，不壓薄軟質薄膜

固定低壓測試，柔性超薄隔膜、光學基膜不會受壓形變，測量數值貼合薄膜真實原始厚度。

500μm 寬測量量程，厚薄試樣通用

0~500μm 量程無需更換機型，單臺設備可檢測超薄涂層、包裝膜、復合薄片多品類材料。

M3 獨立觸控顯示單元，操作直觀

分體式高清觸控表頭，放置靈活，實時顯示厚度數值、公差區間，支持數據鎖定、批量統計。

USB 數字數據輸出，完整數據追溯

USB 通訊對接原廠分析軟件，自動采集、導出厚度數據、生成厚度分布曲線，滿足實驗室質檢數據存檔要求。

陶瓷耐磨臺面 + R30 超硬球面測頭

φ50 陶瓷底座耐腐蝕、高平面度、耐長期摩擦；球面測頭無尖銳棱角，不會劃傷薄膜樣品表面，耐磨使用壽命長。

六、完整規格參數

表格

項目參數備注

測量分辨率0.1μm標準通用精度檔位

重復精度0.2μm多次測量波動≤0.2μm

線性度±0.2%全量程線性誤差控制

測試壓力0.14N固定低壓，不可調節

測量范圍0~500μm寬量程通用款

測頭樣式R30 超硬球面防劃傷薄膜

測量工作臺φ50mm 陶瓷臺面（BDL 加大臺面）耐腐蝕高平整度

數據輸出USB直連電腦采集數據

供電電源AC100V僅市電供電，無電池模式

可選配件替換式測頭、專用數據軟件、薄膜送料工裝按需選配

型號差異BD = 標準臺面；BDL = 加寬大型臺面內部精度、量程一致

七、適用行業場景

鋰電池行業：陶瓷隔膜、鋁塑膜、極片涂層常規厚度檢測

光學薄膜行業：PET 光學基膜、偏光片、納米防護涂層質檢

包裝塑膠行業：PE/PP 薄膜、食品 / 電子卷材來料厚度抽檢

新材料實驗室：中等厚度復合薄膜、功能性涂層對比測試

精密涂布行業：各類超薄涂布膜、離型膜厚度標定