日本富士工 Fujikura 實驗室緊湊型測厚儀 日本富士工 Fujikura 實驗室緊湊型測厚儀

1. 產品概述

HKT-Master0.1BB 為富士工緊湊型通用型薄膜測厚儀，替代舊款 HKT-1200；采用氣動恒定速度下壓機構，消除操作人員手法差異帶來的測量偏差，0.1μm 標準分辨率，量程 0~500μm 覆蓋絕大多數薄膜材料；支持雙供電模式，AC100~240V 寬電壓市電長期實驗室使用，也可安裝 5 節 5 號充電電池脫離電源現場巡檢；測試壓力可自由調節， 0.14N 低壓適配軟性超薄薄膜，配備自研觸控數顯表頭，RS232 通訊對接 PC 軟件存儲厚度數據，標配 φ50 耐磨陶瓷工作臺與 R30 超硬球面測頭，兼顧實驗室常規檢測與產線移動抽檢。

2. 七大核心產品優勢

氣動勻速下壓結構，數據重復性穩定

氣動控制測頭勻速下落，不受人為操作力度影響，重復精度 0.2μm，線性誤差僅 ±0.2%，同一樣品多次測量數值波動極小。

0.1μm 標準分辨率，通用薄膜全覆蓋

最小讀數 0.1 微米，適配常規光學膜、鋰電隔膜、塑膠包裝膜、復合薄片等絕大多數工業薄膜，兼顧精度與通用性。

雙供電設計，實驗室 / 現場兩用

兩種供電方式：AC100~240V 全球市電適配，可全天候連續測試；5 節 5 號充電電池供電，無插座車間、倉庫、戶外均可便攜檢測。

測試壓力可調， 0.14N 不擠壓軟膜

壓力檔位自由切換，低壓模式測量超薄、高柔性薄膜不會壓薄試樣，還原基材原始真實厚度，避免形變造成測量失真。

500μm 寬量程，厚薄薄膜通用檢測

0~500μm 大量程，超薄涂層到數百微米厚復合膜均可測量，無需更換機型，適配多品類來料質檢。

耐磨陶瓷臺面 + R30 超硬球面測頭

φ50mm 陶瓷測量底座耐腐蝕、高平整度、耐刮擦；球面超硬測頭長期高頻測量無磨損，不劃傷薄膜樣品表面。

RS232 數字輸出，完整數據追溯拓展

標配 RS232C 數據接口，搭配專用 PC 軟件自動采集、導出厚度曲線；可選配替換測頭、數據傳輸線、手動泵拓展使用場景。

3. 完整規格參數

表格

項目規格參數說明

測量分辨率0.1μm通用標準精密讀數

重復精度0.2μm多次測量波動≤0.2μm

線性度±0.2%全量程線性誤差控制

測試壓力可調，0.14N適配各類軟質超薄薄膜

測量范圍0~500μm寬量程，厚薄薄膜通用

測頭規格R30 超硬球面耐磨、無試樣壓痕

測量工作臺φ50mm 陶瓷臺面高平整度、耐腐蝕耐磨

數據輸出RS232C 數字通訊對接電腦采集厚度數據曲線

供電方式AC100V~240V 市電 / 5 節 5 號充電電池交直流雙供電，實驗室 / 現場兩用

型號沿革新型號 HKT-Master0.1BB，舊型號 HKT-1200軟硬件升級，增加便攜電池供電功能

可選配件專用 PC 數據軟件、替換式測頭、手動泵按需拓展數據采集、配件更換

4. 典型應用場景

鋰電池行業：常規陶瓷隔膜、鋁塑復合膜、極片涂層來料厚度抽檢

光學薄膜行業：通用 PET 光學基膜、偏光片、防護涂層常規質檢

塑膠包裝行業：PE/PP 薄膜、食品 / 電子包裝卷材倉庫來料檢測

新材料實驗室：中等厚度復合薄膜、功能性涂層小樣對比測試

產線移動質檢：無固定供電工位，電池供電便攜現場抽樣檢測