日本 YAMABUN 臺式接觸膠片薄膜厚度測量儀 日本 YAMABUN 臺式接觸膠片薄膜厚度測量儀

1. 產品概述

TOF-5R01 是 YAMABUN（山文電氣）面向超薄膠片、精密功能性薄膜推出的臺式離線厚度檢測設備，同系列 TOF-4R05 為夾持厚片機型，本機為單點接觸式，針對更薄薄膜試樣開發。

設備搭載自動送料機構，沿樣品長度方向多點連續采樣，規避人工操作力度、定位不一致帶來的數據波動；廣泛應用光學膠片、超薄 PET、鋰電池隔膜、拉伸薄膜等材料實驗室研發、成品抽檢，依靠雷達分布圖直觀評估薄膜縱向厚薄波動。

2. 詳細規格參數

表格

參數項目技術指標

測量厚度范圍0.02～0.2 mm

單次測量長度10～10000 mm

測量間距≥1 mm（可選 0.1mm 極小間距）

最小顯示分辨率0.1 μm

標準測量壓力0.3±0.01 N

供電電源AC100~240V 50/60Hz 寬電壓

使用環境溫度5～40℃

環境濕度35～80% RH（無凝露）

整機功耗50VA（不含外接電腦）

測量原理線性測微器、單點接觸式

3. 可選功能配件清單

? 卷紙打印輸出功能

? 0.1mm 極小間距測量模塊

? 連續自動測量功能

? 各類專用特殊測量探頭

? 圖像數據傳輸機能

? 輸送速度實時顯示

4. 產品核心亮點

? 超高分辨率 0.1μm，適配超薄膠片檢測

可測 20μm 薄膜，滿足光學膜、精密超薄基材嚴苛厚度管控需求。

? 恒定 0.3N 輕測量壓力

輕載荷探頭，防止軟性超薄薄膜受壓形變，保證真實厚度讀數。

? 自動移送測量，檢測重復性優異

全自動行進采樣，消除人工操作個體差異，試驗數據可復現。

? 完整數據采集與分析能力

數值實時顯示屏展示，測量數據自動保存至 PC；可生成厚度分布雷達圖表，用于拉伸成膜工藝參數優化。

? 豐富選配模塊，靈活拓展

可增加打印、微小步距采樣、特殊測頭等功能，匹配不同研發、質檢測試方案。

? 單點垂直接觸式結構

標準平面上下測頭，適合平整薄膜試樣，設備結構簡潔，日常維護便捷。

5. 典型應用領域

光學膠片、超薄 PET 薄膜、鋰電池隔膜、離型膜；

雙向拉伸薄膜、功能性高分子超薄基材；

薄膜工廠研發實驗室配方試驗、擠出工藝調試；

來料檢驗、成品出廠厚度均勻性抽檢；

材料高校、科研院所高分子薄膜物理特性實驗。