日本 YAMABUN 高精度 PI 光學薄膜測厚儀 日本 YAMABUN 高精度 PI 光學薄膜測厚儀

1. 產品概述

TOF-6R001 是 YAMABUN（山文電氣）TOF 系列最高精度型號，專為聚酰亞胺（PI）、光學薄膜、超薄功能性薄膜開發。

搭載高性能線性千分尺測頭，實現接觸式 0.01μm 超高顯示精度；配備自動送料機構，可沿樣品縱向密集采樣，規避人工操作力度、定位偏差；廣泛應用膜材實驗室新品開發、成型工藝優化、出廠精密抽檢，支持生成厚度分布雷達圖直觀評估厚薄波動。

2. 詳細規格參數

表格

參數項目技術指標

測量厚度范圍5～100 μm

單次測量長度10～10000 mm

測量間距≥0.1 mm

最小顯示分辨率0.01 μm

標準測量壓力0.19 N（可切換 0.12N）

供電電源AC100V 50/60Hz

使用環境溫度10～40℃

環境濕度35～80% RH（無凝露）

整機功耗50VA（不含外接電腦）

測量原理線性千分尺、單點垂直接觸式

3. 可選功能配件清單

? 卷紙打印輸出功能

? 連續自動測量功能

? 各類專用特殊測量探頭

? 圖像數據傳輸機能

4. 產品核心亮點

? 0.01μm 超高分辨率，薄膜精密檢測

同系列精度最高機型，滿足 PI 膜、光學膜等材料微米級厚度管控需求。

? 雙檔位輕載荷測量壓力可選（0.12N / 0.19N）

針對極軟超薄薄膜，選用更低壓力避免樣品受壓形變，保障測量真實性。

? 最小 0.1mm 超密集采樣間距

實現高密度連續掃描，精準捕捉薄膜局部微小厚度起伏。

? 全自動移送測量，檢測重復性優異

自動化行進采樣，消除人工操作個體差異，試驗數據可穩定復現。

? 完整數據采集與工藝分析功能

測量數值實時屏幕展示，數據自動保存至 PC；支持厚度分布雷達圖表，用于雙向拉伸薄膜工藝參數調試。

? 單點垂直接觸結構，維護簡單穩定可靠

上下平面標準測頭，適合平整薄膜試樣，長期連續運行故障率低。

5. 典型應用領域

聚酰亞胺 PI 薄膜、光學聚酯薄膜、離型膜、超薄功能性基材；

微電子、柔性線路配套超薄高分子薄膜；

薄膜生產企業研發實驗室配方、拉伸工藝調試；

來料精密檢驗、成品出廠厚度均勻性抽檢；

材料研究院、高校薄膜材料特性科研實驗。