日本 YAMABUN 非接觸電容粘性保護膜測厚儀 日本 YAMABUN 非接觸電容粘性保護膜測厚儀

1. 產品概述

TOF-C2 是 YAMABUN（山文電氣）非接觸電容式離線厚度檢測儀，為 TOF-C 升級后繼機型，區別于 TOF 系列接觸式測厚產品。

依靠靜電容量原理實現無探頭觸碰測量，解決粘性保護膜、超薄軟膜被測頭擠壓變形、表面被刮傷的痛點；支持長樣品連續多點掃描，即使薄膜表面粗糙、輕微凹凸依舊穩定讀數，廣泛應用光學保護膜、自粘膜、各類極易受損高分子薄膜研發與質檢。

2. 詳細規格參數

表格

參數項目技術指標

測量厚度范圍≤500 μm

單次測量長度10～10000 mm

測量間距≥1 mm

最小顯示分辨率0.01 μm

供電電源AC100V 50/60Hz

使用環境溫度5～40℃（單次測量內溫度波動≤1℃）

環境濕度35～80% RH（無凝露）

測量原理靜電容量式、非接觸測量

3. 產品核心亮點

? 真正非接觸測量，杜絕樣品損傷

無探頭壓覆、無表面摩擦，適合柔軟薄膜、帶膠粘性保護膜，不會造成壓痕、劃痕。

? 粗糙表面同樣穩定測量

不受薄膜輕微凹凸、微觀紋理干擾，相比光學測厚對試樣平整度寬容度更高。

? 0.01μm 高顯示分辨率，兼顧精度與通用性

最高量程 500μm，覆蓋多種中薄規格高分子薄膜。

? 內置克重換算功能

可直接由厚度數值換算面密度，減少二次計算，提升實驗室檢測效率。

? 自動介電常數設定功能

更換不同材質薄膜無需繁瑣手動參數錄入，操作門檻低，快速切換試樣檢測。

? 自動移送采樣機構

長尺寸樣品連續自動掃描，厚度波動數據完整采集，用于評估薄膜縱向均勻性。

4. 典型適用樣品

各類自粘性保護膜、PET 離型膜、軟性功能薄膜；

極易刮傷、受壓易形變超薄高分子基材；

表面存在細微紋理、粗糙表層塑料薄膜；

薄膜研發實驗室新品試樣、擠出工藝離線抽檢。