日本 Luceo 光學晶體玻璃條紋缺陷檢測儀 日本 Luceo 光學晶體玻璃條紋缺陷檢測儀

核心規格參數

表格

項目參數詳情

檢測原理陰影繪圖法（シャドウグラフ法）

有效觀察范圍φ45mm

光源類型高亮度藍色 LED

測量波長450~465nm

成像像素1080 (水平)×824 (垂直)

調光方式無級調光

主機尺寸橫置標準：W1030×D160×H205mm

豎置選配：W380×D455×H1245mm

整機重量29kg

標準配置設備主機、配套 PC、連接線纜、樣品臺、防塵蓋

可選配件立式支架（自重 10kg）

使用環境10~35℃，濕度 20%~80% 無結露

適配系統Windows10 64 位，支持 24 寸 1920×1200 顯示器

四大核心優勢

陰影法直觀可視化內部脈理缺陷

平行光成像，可直接在顯示器呈現透明材料內部條紋、光學不均勻、研磨劃痕，缺陷成像清晰，肉眼快速判定，無需復雜換算。

藍色 LED 專用光源，適配光學濾波元件

450~465nm 藍光波段，針對低通濾波晶體、藍濾光片、液晶偏光板優化，精準捕捉可見光設備難以識別的細微脈理。

兩種安裝形態，適配不同產線實驗室

標準臥式節省臺面空間；選配立式支架適配流水線、立式工裝檢測場景，靈活兼容產線與研發實驗室。

高清成像 + 無級調光，檢測兼容性強

百萬級成像像素，明暗無級可調；可檢測水晶、光學玻璃、亞克力透明基材，覆蓋來料、研磨后成品全流程質檢。

適用檢測場景

光學元件行業：低通濾波晶體、藍濾光片、紅外光學基板內部條紋檢測

液晶顯示行業：偏光板、透光液晶基板脈理、表面研磨不均排查

玻璃加工行業：光學玻璃毛坯、拋光件研磨劃痕、內部材質不均檢測

研發實驗室：透明光學新材料內部光學均勻性評估、試樣對比分析