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日本 Luceo 全自動三波長近紅外應力測試儀日本 Luceo LSM-9100WNIR 近紅外全自動應力檢測機,采用三波長近紅外偏振法,支持 Φ100mm 大尺寸樣品測量,可檢測深色樹脂、有色玻璃、半導體晶圓。全自動一鍵測量規避人工誤差,配套專業應力分析軟件,長效 LED 光源,適合光學、塑膠、半導體行業全域殘余應力與裂紋檢測。
產品型號:LSM-9100WNIR
廠商性質:經銷商
更新時間:2026-06-23
訪 問 量:110
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日本 Luceo 全自動三波長近紅外應力測試儀 日本 Luceo 全自動三波長近紅外應力測試儀
廠商產品基礎信息
品牌:日本 Luceo(株式會社ルケオ,創立 60 周年光學儀器廠商)
型號:LSM-9100WNIR
產品名稱:近紅外全自動應力檢測機
平臺分類:一級 - 光學儀器及設備;二級 - 偏光應力檢測儀器;三級 - 大口徑樹脂晶圓應力測試儀
核心規格參數
表格
項目參數
檢測原理近紅外 NIR 三波長偏振方式
測量波長900~1200nm
延遲評估范圍100~5000nm
最大測量口徑Φ100mm
樣品最大放置高度160mm
整機外形尺寸W300×D353×H540mm
整機重量22kg
光源高亮度長效 LED,低功耗
供電規格AC100-240V,DC24V 1.6A
配套套裝主機、工業 PC、連接線纜、設備防塵蓋,適配 Win10 64 位專業版
五大核心優勢
全自動無人化掃描,消除人為誤差
樣品放置后一鍵啟動,內置攝像頭自動定位識別,無需人工調節光路,規避操作人員判斷帶來的測量偏差,批量檢測一致性更高。
三波長近紅外光路,適配有色不透光樣品
突破傳統可見光應力儀局限,可檢測有色亞克力、深色樹脂、有色光學玻璃、半導體晶圓,同步檢測全域殘余應力與內部微裂紋。
100mm 大口徑全域面分布檢測
覆蓋直徑 100mm 大面積試樣,數分鐘完成完整二維應力云圖掃描,適配大尺寸光學基板、注塑塑膠件、硅片整片檢測。
專業多功能分析軟件
內置截面曲線、區域直方圖、三維立體應力可視化,支持 CSV 數據導出、圖像存檔,便于品質報告批量輸出與追溯。
低維護長效光源
高亮度 LED 近紅外光源,使用壽命長,大幅減少光源更換頻次,降低實驗室長期運維成本,支持多日連續不間斷檢測。
適用工業 & 實驗室場景
塑膠行業:有色注塑樹脂、亞克力板材、光學鏡片內應力、裂紋全檢
光學產業:有色濾光片、紅外光學基板、大尺寸光學元件品質管控
半導體行業:100mm 以內晶圓、光學晶片殘余應力面分布評估
精密零部件來料檢測、出廠應力批量抽檢、研發試樣對比測試