日本 KATO KOKEN 半導體微粒子觀測片狀光源 日本 KATO KOKEN 半導體微粒子觀測片狀光源

1. 產品概述

KLM-600FC 是日本加藤興研自研的熒光式片狀照明光源，區別于傳統高功率激光與普通 LED，采用青色激光二極管 + 熒光體復合結構生成高亮度均勻黃光，屬于 1 類安全光源，大幅降低激光安全管控門檻；輸出均勻片狀黃光，專門用于 PIV 流體測速、潔凈室 0.3μm 級懸浮微粒觀測、氣流 / 液相流場可視化，適配半導體、光伏、實驗室等無塵生產場景。

2. 完整硬件規格參數

表格

參數項目技術指標

發光顏色黃色熒光光

驅動 / 調光定電流驅動，電流無級可調

輸入電源AC100~240V（±10%），50/60Hz 寬電壓

功耗100V 輸入 410VA；240V 輸入 420VA

冷卻方式強制風冷

主機尺寸 / 重量215×175×270mm，整機 7.8kg

光纖光學頭尺寸60×170×18mm，光纖線纜總長 3m

標準配件說明書、2 米 3P 接地 AC 電源線

3. 核心工作原理

內部青色激光二極管照射熒光轉換介質，激發均勻高亮度黃光；可精準控制光束發散角，輸出薄型均勻片光；黃光抗水汽、霧氣散射干擾，高顆粒濃度環境下依舊清晰捕捉粒子輪廓。

四、五大核心產品優勢

1. 1 類低安全等級，現場使用無嚴苛管控

無需 3B/4 類高功率激光的復雜安全防護、場地限制，普通潔凈室、實驗室可直接部署，降低現場安全管理成本。

2. 黃光抗散射，高濃度微粒清晰成像

黃色光不受水滴、霧氣散射干擾，在高粉塵、高霧濃度工況下，粒子輪廓辨識度遠優于白光、綠光光源，適配 0.3μm 半導體微顆粒觀測。

3. 均勻高亮度片光，全流程 PIV 測量適配

片光亮度充足，可完整支撐粒子追蹤、速度矢量計算、渦流渦旋解析全流程 PIV 實驗，兼容市面主流高速相機與 PIV 分析軟件。

4. 分體光纖設計，狹小空間靈活布光

主機與發光頭通過 3 米光纖分離，發光頭輕薄小巧，可伸入產線腔體、風道、液槽內部完成可視化觀測。

5. 工業級寬電壓適配，長期穩定運行

全球通用 AC100~240V 寬電壓輸入，強制風冷散熱，可長時間連續工作，適配工廠 24 小時量產質檢。

五、適用測量場景與行業

核心應用場景

PIV 流體測速：空調風道氣流可視化、液相流場觀測、流體速度矢量 / 渦度計算分析；

潔凈室微粒溯源：半導體車間 0.3μm 懸浮粒子、粉塵漂浮軌跡可視化，異物污染源定位驗證；

產線粉塵管控：光伏、顯示、精密制造無塵車間揚塵、發塵源頭快速排查。

適配行業

半導體晶圓制造、光伏電池工廠、顯示面板產線、流體力學實驗室、航空航天風洞實驗室、精密醫療器械潔凈車間。