日本 Takano 高野 偏光膜在線瑕疵掃描儀器 日本 Takano 高野 偏光膜在線瑕疵掃描儀器

1. 產品概述

HAWKEYES ONE 是 Takano 面向高速涂布產線推出的無基材薄膜超高速全幅視覺檢測系統，搭載品牌自研高分辨率線陣相機與 AI 缺陷分類算法，最高支持 200m/min 產線走速，最小 5μm 微小缺陷穩定捕捉；一套設備同步識別涂布全品類瑕疵，適配光學、鋰電、電子、基材四大類薄膜，配套 FA 工業工控軟件，完整記錄缺陷坐標、圖像、趨勢報表，支持產線標記剔除聯動，是薄膜量產品質管控核心設備。

2. 硬件整機規格

表格

硬件項目參數詳情

自研線陣相機像素8000 像素 / 16000 像素雙規格可選

控制工控主機FA 工業規格 PC

成像光學定制專用工業鏡頭 + 多通道特殊照明單元

產線速度 & 對應分辨率50m/min→5μm；100m/min→10μm；200m/min→20μm

系統架構卷材放卷 - 照明 - 相機 - 圖像處理單元 - 標記機（選配）

3. 配套軟件完整功能

缺陷檢測處理模塊

實時缺陷判定、噪聲抑制、空間濾波算法、缺陷 Map 全域分布圖可視化

數據追溯查看模塊

缺陷坐標清單、缺陷原圖存儲、不良趨勢曲線、批量統計報表、粒徑分類統計

拓展定制服務

UI 界面定制、新增缺陷算法、對接產線 MES / 剔除設備、功能模塊按需開發

4. 可檢出全品類薄膜缺陷清單

穴系缺陷：涂層缺失、針孔凹坑

涂布條紋缺陷：橫向輥印條紋、縱向劃痕、膜面褶皺

凹凸異物缺陷：表面顆粒臟污、劃傷、內部氣泡、凸起顆粒

姆拉膜厚不均缺陷：涂布厚薄姆拉、刮痕色差

最小穩定檢出 5μm 細微瑕疵，多缺陷并行同步運算，無漏檢、低誤判。

5. 四大核心產品特長

01 適配超高速量產產線

自研高感光線陣相機，200m/min 高速走膜仍保持 20μm 高精度檢測，匹配薄膜高速涂布產線，不拖慢生產節拍。

02 多算法并行多缺陷同步檢測

自研多層圖像處理單元，單次掃描同時識別黑點、姆拉、條紋、氣泡、劃傷等數十種瑕疵，無需分段切換檢測模式。

03 人機友好可視化操作軟件

分區缺陷預覽、全域缺陷地圖、歷史缺陷圖庫、工藝參數食譜存儲，界面簡潔易上手，降低操作人員學習成本。

04 Takano AI 智能缺陷自動分類

搭載自研 AI 圖像識別模型，無需人工手動篩選，系統自動區分缺陷類型、尺寸等級，大幅減少人工復檢工作量，穩定管控流出不良。

6. 四大適配薄膜品類 & 下游客戶

光學薄膜

偏光膜、擴散膜、相位膜、防反射膜、TAC/PET 基材膜

適用客戶：光學顯示膜材廠、LCD/OLED 配套企業

電子元件薄膜

MLCC 離型膜、CCL/FCCL 覆銅板、DFR 干膜、絕緣粘接膜

適用客戶：PCB、被動元器件、柔性電子廠商

新能源薄膜

鋰電池隔膜、銅鋁金屬箔

適用客戶：鋰電正極 / 負極 / 隔膜材料制造企業

通用基材薄膜

PET、PI 耐高溫薄膜、各類功能涂布基材

適用客戶：功能性薄膜、特種材料研發及量產工廠