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日本富士工 Fujikura 便攜式薄膜厚度測試儀日本富士工 HKT-Lite 0.1 無線輕便型膜厚儀,紐扣電池供電無需外接電源,0.1μm 測量分辨率,8mm 測量行程;恒定測頭下落速度消除人為誤差,陶瓷臺面搭配 R30 硬質測頭,支持 RS232/USB 數據輸出,適用于薄膜、薄片現場與實驗室精密厚度檢測。
產品型號:HKT-Lite 0.1
廠商性質:經銷商
更新時間:2026-07-02
訪 問 量:78
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日本富士工 Fujikura 便攜式薄膜厚度測試儀 日本富士工 Fujikura 便攜式薄膜厚度測試儀
1. 產品概述
HKT-Lite 0.1 是富士工推出的無線電池驅動輕便型臺式精密測厚儀,無需外接交流電源,采用 CR2032 紐扣電池供電,可在無供電的車間、現場、戶外完成 0.1μm 高精度厚度檢測;設備恒定控制測頭下降速度,消除人為操作力度差異帶來的測量偏差,搭配陶瓷測量臺面與 R30 超硬球面測頭,適配薄膜、薄片、涂層等各類軟性 / 硬質試樣,支持 RS232、USB 雙數據輸出,可搭配 PC 軟件記錄厚度數據,同時提供替換測頭、數據傳輸線、手動泵等選配配件。
2. 五大核心產品優勢
無線無外接電源設計,現場便攜檢測
整機依靠 CR2032 紐扣電池供電,機身輕量化,無需市電插座,倉庫、產線巡檢、戶外試樣抽檢均可靈活使用。
恒定測頭下落速度,測量數據重復性高
機械結構穩定控制測頭下降速率,杜絕人工手動下壓力度不均造成的數值波動,重復精度可達 0.4μm,數據一致性優異。
0.1μm 高分辨率,寬 8mm 測量行程
最小讀數 0.1μm,總測量行程 8mm,既能檢測微米級超薄薄膜,也可測量厚片、多層復合卷材,覆蓋多規格試樣。
耐磨陶瓷工作臺 + 超硬球面測頭,使用壽命長
φ50 陶瓷測量底座耐腐蝕、不易刮花;R30 超硬球面測頭不易磨損,長期測量薄膜無壓痕、不損傷試樣表面。
雙通訊輸出,完整數據采集拓展
標配 RS232、USB 雙數字接口,可直連電腦導出測量數據;可選配替換測頭、PC 數據傳輸線纜、手動泵,適配實驗室批量檢測場景。
3. 完整規格參數
表格
項目參數值說明
測量分辨率0.1μm最小讀數 0.1 微米
重復精度0.4μm多次測量數值波動≤0.4μm
整機測量精度≤1.8μm全量程系統誤差控制
測試壓力≤0.8N(1mm 試樣時)低壓測試,避免薄膜形變
測頭規格R30 超硬球面耐磨不劃傷試樣
測量行程8mm最大可測厚度 8 毫米
測量工作臺φ50mm 陶瓷臺面耐磨損、耐腐蝕
數據輸出RS232C、USB雙接口對接電腦采集數據
供電方式CR2032 紐扣電池無線免外接電源
可選配件替換測頭、PC 數據傳輸線、手動泵按需拓展檢測功能
4. 典型應用場景
鋰電行業:隔膜、鋁塑膜、極片薄片現場快速抽檢,車間無電源工位巡檢
光學薄膜:PET 基膜、偏光片、ITO 導電膜實驗室精密厚度篩查
塑膠包裝:PE/PP 薄膜、食品卷材倉庫來料厚度檢測
新材料研發:高分子薄片、涂層膜、柔性基材小樣離線測厚
品質巡檢:產線移動質檢工位,無需固定供電,隨時抽樣檢測