日本富士工 Fujikura 實(shí)驗(yàn)室薄片厚度測試儀 日本富士工 Fujikura 實(shí)驗(yàn)室薄片厚度測試儀

1. 產(chǎn)品概述

HKT-Master0.01AA 是富士工旗艦級超高精度臺式薄膜厚度測量儀，面向超薄光學(xué)膜、鋰電隔膜、涂層薄膜研發(fā)質(zhì)控；整機(jī)采用氣動(dòng)恒定速度下壓機(jī)構(gòu)，消除操作人員力度差異帶來的數(shù)據(jù)偏差，0.01μm 頂級分辨率，0.14N 極低測試壓力避免軟薄膜形變，搭配三豐數(shù)顯表頭，支持 RS232 數(shù)據(jù)通訊，配套專用 PC 軟件采集存儲厚度曲線，標(biāo)配 φ50 耐磨陶瓷工作臺與 R30 超硬球面測頭，適合對測量精度、重復(fù)性要求嚴(yán)苛的實(shí)驗(yàn)室研發(fā)與來料全檢。

2. 六大核心產(chǎn)品優(yōu)勢

氣動(dòng)恒定下壓結(jié)構(gòu)，消除人為操作誤差

機(jī)械氣動(dòng)控制測頭下降速度全程一致，不同操作人員測量同一樣品數(shù)值無波動(dòng)，重復(fù)精度可達(dá) 0.1μm，數(shù)據(jù)一致性行業(yè)頂尖。

0.01μm 超高分辨率，適配納米級超薄薄膜

最小讀數(shù) 0.01 微米，指示精度 0.2μm，可精準(zhǔn)分辨極薄涂層、光學(xué)基膜、微孔隔膜的微小厚度差異，滿足新材料研發(fā)檢測。

0.14N 超低壓測試，軟質(zhì)薄膜無擠壓形變

極低測試壓力，測量軟性薄膜、超薄基材不會壓薄試樣，還原真實(shí)原始厚度，杜絕因壓力過大造成的測量失真。

耐磨陶瓷臺面 + 超硬球面測頭，長期使用穩(wěn)定

φ50mm 陶瓷測量底座耐腐蝕、耐刮擦；R30 超硬球面測頭不易磨損，長期高頻測量無劃痕，不損傷薄膜樣品表面。

三豐專業(yè)數(shù)顯表頭 + RS232 數(shù)字輸出

配套 Mitutoyo 高精度數(shù)顯單元，讀數(shù)直觀穩(wěn)定；RS232C 數(shù)據(jù)接口直連電腦，搭配專用軟件自動(dòng)記錄、導(dǎo)出厚度數(shù)據(jù)。

AC 市電穩(wěn)定供電，實(shí)驗(yàn)室長期連續(xù)檢測

AC100V 標(biāo)準(zhǔn)供電，可長期不間斷開機(jī)批量檢測，無電池續(xù)航限制，適合實(shí)驗(yàn)室全天候試樣測試。

3. 完整規(guī)格參數(shù)

表格

項(xiàng)目規(guī)格參數(shù)說明

測量分辨率0.01μm行業(yè)超高精密讀數(shù)

重復(fù)精度0.1μm多次測量波動(dòng)≤0.1μm

指示精度0.2μm整機(jī)系統(tǒng)誤差控制

測試壓力0.14N低壓不擠壓超薄軟膜

測量范圍0~500μm覆蓋各類超薄至中厚薄膜

測頭規(guī)格R30 超硬球面耐磨、不劃傷試樣

測量工作臺φ50mm 陶瓷臺面耐腐蝕、高平整度

數(shù)據(jù)輸出RS232C 數(shù)字通訊對接電腦采集數(shù)據(jù)

供電電源AC100V支持長期連續(xù)開機(jī)

標(biāo)配組件三豐 EH-10S 數(shù)顯表頭、主機(jī)、陶瓷工作臺成套完整測量系統(tǒng)

可選配件專用 PC 數(shù)據(jù)軟件、替換式測頭拓展數(shù)據(jù)追溯、磨損更換

4. 典型應(yīng)用場景

光學(xué)薄膜行業(yè)：偏光片、ITO 導(dǎo)電膜、光學(xué) PET 基膜、防刮涂層超薄精密厚度檢測

鋰電池材料：超薄陶瓷隔膜、超薄鋁塑復(fù)合膜、極片涂層實(shí)驗(yàn)室研發(fā)測試

柔性電子行業(yè)：柔性基材、超薄 PI 膜、導(dǎo)電涂層厚度質(zhì)控

高分子新材料研發(fā)：超薄功能性涂層、微孔薄膜、超薄復(fù)合膜小樣對比測試

包裝膜質(zhì)檢：食品、電子包裝超薄卷材來料高精度抽檢