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日本 ONOSOKKI 小野 電容式非接觸厚度儀日本 ONOSOKKI CL-5610 系列電容式非接觸厚度計,搭配 VE 系列電容傳感器,可無損測量導體、半導體,選配功能后支持塑料薄膜、玻璃等絕緣體測厚;雙通道輸入,采樣速度 20ms,具備 RS232、BCD 輸出;CL-5610S 放大器外置,適合產線設備集成
產品型號:CL-5610
廠商性質:經銷商
更新時間:2026-07-16
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日本 ONOSOKKI 小野 電容式非接觸厚度儀 日本 ONOSOKKI 小野 電容式非接觸厚度儀
1. 產品概述
CL-5610 系列是小野測器推出電容式非接觸厚度測量主機,搭配 VE 系列電容間隙傳感器使用。
設備分為兩款機型:
CL-5610:放大器內置,傳感器線纜長度固定 1.5m,適合實驗室桌面離線檢測;
CL-5610S:放大器獨立外置,主機與放大器標準線纜 2.5m,最長可拓展至 10m,便于自動化設備內嵌集成。
整機支持雙路傳感器接入,既可對置測厚度,也可單獨作為雙通道間隙監測儀使用。
2. 測量原理
? 導體 / 半導體測量:上下兩只電容傳感器對向布置,分別采集傳感器與樣品上下表面間隙,通過傳感器基準間距差值運算得出厚度;
? 絕緣體測量(選配 CL-0300):單傳感器搭配金屬基準底板,依托材料介電常數完成薄膜、薄片厚度求解。
3. 核心功能亮點
? 多材質兼容測量
標準可測導體、半導體;加裝 CL-0300 選件可測量塑料薄膜、玻璃、樹脂等絕緣體。
? 高阻抗接地模式(CL-0210 選配)
針對氟涂層臺面、難以大面積接地的樣品,縮小接地接觸面積,依然保證測量穩定。
? 高分辨率演算功能(CL-0200 選配)
標準精度 ±0.15% FS;開啟選件可達 ±0.12% FS;最小顯示分辨率低至 0.02μm。
? 雙通道架構,用途靈活
2 路傳感器輸入,支持厚度測量、單點間隙、差值 A-B、最大 / 最小值、波動區間 RANGE 運算。
? 豐富對外通訊與輸出
標配 RS-232,支持遠程控制、數據采集;可選 6 位并行 BCD 輸出,對接 PLC、數據記錄儀。
? 多組參數記憶
主機可存儲最多 6 組傳感器校準參數,現場快速切換不同量程 VE 傳感器。
? 斷電參數保存
全部設定參數內置存儲,關機后配置不丟失。
4. 關鍵電氣規格
標準精度:±0.15 % F.S;加裝 CL-0200:±0.12 % F.S(VE-8020/8021 除外)
精度保證溫區:23℃±2℃
采樣周期:20ms
移動平均:1~64 階可調
遠程功能:外部觸發開始 / 停止測量、厚度校準
顯示:熒光數碼管,可切換單項目 / 雙項目顯示
5. 機型差異對比
表格
項目CL-5610CL-5610S
放大器結構主機內置放大器獨立外置放大器單元
傳感器→放大器線纜固定 1.5m,不可延長1.5m(傳感器至外置放大器)
放大器→主機線纜無標準 2.5m,最長可選 10m
適用場景實驗室臺式離線檢測自動化設備集成、產線在線檢測
6. 適配 VE 傳感器分辨率參考
表格
傳感器型號測量量程標準分解能CL-0200 高分辨率模式
VE-201120~200μm0.1μm0.02μm
VE-501050~500μm0.1μm0.05μm
VE-501120~200μm0.1μm0.02μm
7. 典型應用場景
半導體硅片、碳化硅薄片厚度無損抽檢
光學玻璃、超薄樹脂薄膜、PET 基材厚度檢測
鋰電池銅鋁箔、導電薄片非接觸測厚
精密導電墊片、鍍層基材離線厚度測試
自動化產線薄片在線厚度監控