日本 Santec 高分辨率1310nm光學斷層測定器 日本 Santec 高分辨率1310nm光學斷層測定器

1. 產品概述

IVS-2000-HR 是 Santec 面向科研與工業檢測推出的掃頻光學相干斷層掃描（SS-OCT）系統，專為強散射、半透明樣品微觀分層檢測設計。區別于普通 OCT 設備，本機搭載優化 1310nm 紅外光源，對生物組織、高分子藥片、復合膜層等散射介質穿透能力更強；同時擁有全系列最高軸向分辨率，可清晰分辨 5μm 以內細微分層結構，成像清晰度大幅提升。

整機由 IVS-2000 主機、HSL 高速掃描激光單元、精密顯微載物臺組成一體化工作站，無需額外搭建光路，開箱即可完成斷層成像、厚度量化、缺陷篩查，廣泛覆蓋生命科學、日化研發、精密制造多領域實驗室場景。

2. 核心硬件規格參數

中心工作波長：1310 nm

線掃描速率：20 kHz

空氣中軸向分解能：＜9 μm

體內實測分辨率：≤5 μm（IVS 系列最高水準）

光源類型：掃頻激光 SS-OCT

配套模組：HSL 高速掃描激光單元、精密 XY 顯微載物臺

檢測模式：非接觸無損成像、實時斷層圖像輸出、膜層厚度數值量化

3. 核心產品優勢

① 1310nm 紅外波段，強散射樣品適配性強

近紅外光相比可見光、850nm 波段，穿透生物皮膚、藥片粉體、高分子復合材料的能力更強，可獲取更深層內部斷層結構，不會出現表層信號過強掩蓋底層缺陷的問題。

② 系列頂尖超高分辨率，微米級細微分層識別

體內分辨率低于 5μm，可清晰區分皮膚表皮 / 真皮分層、藥劑包衣多層膜、光學薄膜、半導體涂層等極薄界面，滿足前沿科研與高精度工業質檢需求。

③ 20kHz 高速線掃，批量檢測效率更高

高速掃描光源大幅縮短單張斷層圖像采集時間，大批量樣品篩查、長時間動態觀測（皮膚刺激試驗、藥劑溶出觀測）不會產生運動模糊，數據采集穩定性強。

④ 無損無標記檢測，樣品可重復利用

全程紅外光學非接觸測量，無需染色、切片、破壞樣品，生物皮膚活體檢測、珍貴藥劑、精密元器件檢測后樣品可留存做后續對照試驗，降低試驗耗材成本。

⑤ 一體化成套工作站，部署簡單

主機 + 高速掃描激光 + 顯微載物臺成套交付，光路出廠校準完成，實驗室僅需供電即可使用，無需光學工程師調試光路，快速投入試驗。

⑥ 雙場景通用設計，兼顧科研與工業質檢

一套設備同時滿足生命科學皮膚機理研究、化妝品功效評價，以及工業元器件微缺陷、多層薄膜厚度在線測量，設備復用率高。

4. 兩大核心應用領域

（1）生物 / 日化 / 醫藥科研：皮膚微觀斷層成像

化妝品研發：保濕、抗衰、修護類護膚品透皮吸收機理觀測，表皮屏障分層變化成像

醫藥皮膚科：外用藥物滲透深度定量、皮膚炎癥組織分層對比、活體皮膚無創病理觀測

藥劑檢測：藥片包衣多層厚度測量、緩釋藥劑內部孔隙結構、膠囊壁分層缺陷檢查

（2）工業精密檢測：微結構成像與膜厚測量

光學 / 半導體器件：多層光學涂層、晶圓保護膜、聚合物基板內部微裂紋、氣泡缺陷篩查

高分子復合材料：薄膜卷材、柔性基材多層厚度均勻性檢測，復合膠層界面分層觀測

精密零部件：透明 / 半透明器件內部空洞、分層、劃痕無損探傷，替代切片破壞性檢測