日本 Santec 高速1310nm光學斷層測定器 日本 Santec 高速1310nm光學斷層測定器

1. 產品概述

IVS-2000-HS 是 Santec 面向工業量產產線推出的高速掃頻光學相干斷層掃描系統，專為流水線不間斷在線檢測優化設計。采用 1310nm 紅外光源，對高分子、復合涂層、藥用片劑、半透明塑料等強散射材質具備優異穿透能力；相比常規 20kHz 機型，100kHz A-line 掃描速率將成像速度提升 5 倍以上，匹配高速自動化生產線節拍，無需停機等待，實現全樣本實時無損質檢。

整機可搭配 HSL 高速掃描激光單元、自動化 XY 載物臺組成成套在線工作站，出廠完成光路校準，可直接對接 PLC、流水線傳動機構，輸出斷層圖像與厚度量化數據，同步留存缺陷記錄用于品質追溯。

2. 核心硬件規格參數

中心工作波長：1310 nm

A-line 線掃描速率：100 kHz

空氣中軸向分辨率：＜18 μm

檢測方式：非接觸紅外無損斷層成像、實時膜厚量化

適配配套：HSL 高速掃描激光、自動化精密顯微載物臺

適用場景：工業產線連續在線高速檢測、大批量樣品快速篩查

3. 核心產品優勢

① 100kHz 超高掃描速率，適配高速流水線

掃描速度達 100kHz，單幀圖像采集時間大幅壓縮，可匹配高速自動化產線節拍，不會因檢測拖慢生產效率，實現 100% 全檢無遺漏。

② 1310nm 紅外波段，強散射工件穿透性強

近紅外光可穿透塑料、復合膜、藥片粉體、發泡材料等散射介質，清晰采集深層內部分層、氣泡、裂紋缺陷，解決可見光淺層成像看不清內部的痛點。

③ 無損非接觸檢測，不破壞工件

全程光學無接觸測量，無需切片、染色、化學處理，檢測后工件可正常流入下一道工序，無耗材損耗，降低產線質檢成本。

④ 一體化成套工作站，快速對接自動化產線

主機 + 高速激光 + 自動化載物臺成套交付，預留工業通訊接口，可對接產線 PLC、分揀設備，實現 “成像 - 判級 - 分揀" 全自動閉環質檢。

⑤ 實時成像 + 數值量化雙重輸出

同步輸出斷層二維圖像與各層厚度數值，自動標記內部缺陷位置與尺寸，數據可本地存儲、上傳 MES 系統，滿足工業品質溯源規范。

⑥ 長周期穩定運行，適配 7×24 小時量產環境

工業級光路與電路設計，連續不間斷運行無漂移，減少頻繁校準頻次，降低產線停機維護時長。

4. 核心應用場景：工業流水線在線高速檢測

光學薄膜 / 柔性基材：多層復合膜厚度均勻性在線監測，涂層分層、針孔缺陷實時篩查

高分子塑膠零部件：透明 / 半透明塑料殼體內部氣泡、分層、注塑缺陷高速檢測

醫藥片劑 / 膠囊：藥片包衣多層厚度、緩釋內部孔隙、膠囊壁破損在線全檢

新能源復合板材：絕緣涂層、多層隔膜分層結構無損成像，厚度實時管控

精密光學元器件：鍍膜層厚度、內部微裂紋自動化批量篩查