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日本 MAGNET LABO 帶峰值脈沖磁場測量儀MAGNET LABO ML-20DPH 臺式脈沖磁場高斯計，在 ML-20D 基礎上升級峰值保持與良品比較判定功能，可捕獲 100μs 以上脈沖磁場峰值；適配充磁脈沖磁場檢測、產線磁鐵批量分選，標配雙規格探頭，支持數據外接記錄。

日本 MAGNET LABO 臺式高精度磁通測量儀MAGNET LABO DFM-5WH 臺式高精度磁通計，為 DFM-1D/FM-1C 停產升級替代款；AC 市電供電，帶峰值保持與良品比較判定功能，寬量程覆蓋 0.1~199900KMx，適配工廠產線磁鐵全檢、大尺寸永磁批量磁通檢測。

日本 MAGNET LABO 便攜式手持式數字磁通計日本 MAGNET LABO DFM-2 手持式磁通計，電池供電便攜設計，3 檔量程切換，可直連搜索線圈直接讀取永磁總磁通量；機身輕巧僅 300g，用于小型磁鐵、轉子充磁后抽檢、飽和磁通臨界點確認，支持選配電源適配器長時間作業。

日本 Santec 非接觸式晶圓厚度分布測量儀Santec TMS-2000 是半導體專用晶圓厚度分布測量儀，依托光外差干涉實現≤1 nm 亞納米重復精度，單面非接觸測量，兼容 4–12 英寸高摻雜硅、粗磨、SiC、鈮酸鋰等晶圓；內置專業分析軟件，輸出厚度云圖、SEMI 標準平坦度、Zernike 殘差缺陷，抗環境溫漂與振動，小型整機適配實驗室與產線抽檢。

日本 Atms 便攜經濟型電力紫外電暈探測器COROTEK-V10 是 V200 紫外相機簡化入門機型，專為 5 米內近距離高壓電力設備電暈檢測設計，可量化放電紫外光量，搭載激光瞄準精準定位缺陷；機身比 V200 更緊湊輕便，無需圖像拍攝記錄場景適用，采購成本更低，廣泛用于 GIS、變壓器、絕緣子等高壓設備日常維護巡檢。

日本 Santec 超高靈敏度光學三維干涉測量儀Santec OPS-1000 采用波長可變激光干涉技術，感光靈敏度較傳統機型提升百倍，動態范圍 70dB；每秒 10 萬點高速掃描，同軸光路可測量復雜異形工件，不受材質、顏色干擾；可完成三維形貌、高度差、曲面缺陷檢測，覆蓋刀具、變速箱、發動機缸體、半導體封裝、復合材料風扇等多行業精密質檢。

TECHNUM 分光干涉晶圓非接觸厚度測量機TECHNUM TTS3100Xθ 搭載分光干涉紅外激光，X 軸 + 360° 旋轉復合平臺，適配 2~12 英寸整片晶圓；分解能 0.01μm，極限可達 0.001μm，可分別檢測硅基底與表面樹脂 / PET 薄膜厚度，全程無接觸不傷晶圓，軟件自動 OK/NG 判定，小型機身適配潔凈車間量產抽檢與全檢。

日本 TECHNUM 雙面非接觸晶圓厚度測量儀TECHNUM TTS2100 采用上下雙激光夾持式測厚，兼容三角 / 共焦 / 分光干涉 / 多同軸四類激光傳感，最大分辨率 0.001μm；適配 2~12 英寸晶圓、光學玻璃、薄膜、金屬板材，XY 自動平臺高速全域掃描，全程非接觸無劃傷，支持標準 XY 軸機型與晶圓旋轉定制款，可定制行程適配各類大板工件。