
日本 INTECS 通用款強光目視檢測光源INTECS UIH 系列強光檢查燈采用 SCR 調光控制,亮度可調范圍超 10:1,風扇強制風冷散熱,通過高聚光強光凸顯工件劃痕、異物、氣泡缺陷,適配手機、鏡頭、硬盤、晶圓等精密件質檢;三檔功率覆蓋小到大尺寸檢測場景,具備過熱保護,運行穩定適配產線長期作業。
2026-07-20
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日本 Santec 寬帶多邊形掃描 SS-OCT 光源Santec HSL-2100 采用多邊形掃描儀架構,1310nm 中心波長,提供 110nm/170nm 兩種寬帶掃描版本,掃描速率 20kHz;波長線性度與重復精度優異,無需 K 觸發器即可適配通用采集卡,簡化整機電路設計,相干長度≥6mm,性價比突出,適配半導體晶圓、工業在線高精度斷層檢測。
2026-07-17
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日本 Santec 長相干MEMS高速掃頻光源Santec HSL-20 采用 MEMS 微型掃描架構,1310nm 波段光線穿透散射組織能力優異,掃描范圍≥105nm,提供 50kHz/100kHz 兩種掃描速率,相干長度最高 20mm;內置啟動同步觸發器與 K - 采樣觸發器,USB 通訊,支持 OEM 封裝定制,適配牙科、眼底、冠脈內窺及工業在線深度檢測設備。
2026-07-17
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日本 Santec MEMS 高速眼底成像掃頻光源Santec HSL-10 采用自研 MEMS 技術打造 1060nm 高速掃頻光源,100kHz 穩定單向掃描,波長掃描范圍≥90nm,相干長度≥10mm;1060nm 波段不易被水吸收,適配視網膜眼底成像;內置啟動同步觸發器與 K - 采樣觸發器,USB 通訊,支持 OEM 定制封裝,是醫用 SS-OCT 設備核心光源模組。
2026-07-17
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日本 Tama Electric 脈沖半導體激光光源日本 Tama Electric 珠電子 LDB-200 皮秒脈沖半導體激光光源,支持短脈沖 / 長脈沖模式切換,最小脈沖寬度 40~80ps;可選波長 375~1550nm,峰值功率 20~300mW;整機封閉式機箱,尺寸 200×140×70mm,重量 800g,DC5V 供電;支持 USB 電腦控制與單機獨立運行,僅光纖輸出,內置安全聯鎖,
2026-07-10
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日本 Tama Electric 脈沖半導體激光光源日本 Tama Electric 珠電子 LDB-160 緊湊型脈沖半導體激光光源,支持短脈沖 / 長脈沖模式一鍵切換,最短脈沖 40~80ps;可選波長 375~1550nm,峰值功率 20~300mW;整機小巧僅 200g,DC5V 供電,支持 USB 電腦控制與獨立單機運行,提供光纖輸出、空間光輸出兩種版本,廣泛適用于學術科研、光學檢測、產
2026-07-10
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Optronscience LD 光源可調半導體激光裝置日本 Optronscience AOS-103 系列光纖 LD 光源覆蓋 375~1550nm 全波段,分標準款與帶 TEC 溫控 AOS-103T;支持單模、保偏、多模光纖輸出,1~30mW 功率連續可調,搭載 0~10kHz TTL 外部調制;標配 FC/SMA 光纖接口,可定制多波長復合光源,適配光學測量、生物傳感、光譜實驗、工業檢
2026-07-08
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日本 KATO KOKEN 半導體微粒子觀測片狀光源 日本 KATO KOKEN KLM-600FC 熒光片狀光源,1 類安全黃光照明,無需復雜激光防護;分體光纖薄型發光頭輸出均勻片光,抗水汽散射,可用于 PIV 流體測速、潔凈室微粒子可視化,適配半導體、實驗室無塵環境長期觀測微粒與氣流軌跡。
2026-06-26
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