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日本 ONOSOKKI 小野 電容式非接觸厚度儀日本 ONOSOKKI CL-5610 系列電容式非接觸厚度計，搭配 VE 系列電容傳感器，可無損測量導體、半導體，選配功能后支持塑料薄膜、玻璃等絕緣體測厚；雙通道輸入，采樣速度 20ms，具備 RS232、BCD 輸出；CL-5610S 放大器外置，適合產線設備集成

日本 EWIG 激光全息超高精度接觸式測厚儀日本 EWIG EH-3000 采用雙激光全息標尺，接觸式雙面夾持測量，最小顯示 0.01μm。測量范圍數十 μm~8mm，重復精度 ±0.05μm 以內；適配晶圓、玻璃、金屬、薄膜、塑料試樣，搭載 RS-232C 數據通訊接口，支持測量數據外接電腦采集，可定制自動化工作臺。

日本 YAMABUN 非接觸干涉透明多薄膜測厚儀日本 YAMABUN TOF-S 臺式離線分光干涉式厚度測量儀，采用光纖分光干涉光學原理，非接觸無損檢測透明平滑薄膜、多層涂層。最高0.001μm顯示分辨率，可單側反射式測量，不易受溫度波動干擾；區分薄物 / 厚物雙量程，適配電子光學基材，支持離線實驗室檢測，也可定制為生產線在線機型。

日本 YAMABUN 非接觸電容粘性保護膜測厚儀日本 YAMABUN TOF-C2 臺式離線電容式厚度測量儀，采用靜電容量非接觸檢測原理，不會劃傷、擠壓試樣，適配接觸式難以測量的柔軟、帶粘性薄膜。量程最高 500μm，分辨率 0.01μm，支持克重換算，搭載自動介電常數設定功能；表面粗糙薄膜亦可穩定檢測，是保護膜、軟性基材理想離線檢測設備。

日本 YAMABUN 高精度 PI 光學薄膜測厚儀日本 YAMABUN TOF-6R001 臺式離線接觸式厚度測量儀，面向聚酰亞胺、光學薄膜等超高精度基材。量程 5~100μm，業界頂尖 0.01μm 顯示分辨率，支持 0.1mm 極小采樣間距；雙檔位輕測量壓力可選，自動移送消除人為誤差，測量數據自動存儲，適配薄膜研發與嚴苛品質管控。

日本富士工 FUJIWORK 無引線薄膜測厚儀日本富士工 FT-D210NL/NLT 無引線連續薄膜測厚儀，側邊邊緣進料無需抬測頭，杜絕薄膜劃傷；0.1μm 分辨率，分 20~500μm 薄膜款與 0.5~3mm 厚工件夾頭款，0.45N 可調壓力，PC 軟件自動采集厚度曲線，適配鋰電、光學、厚復合板材實驗室批量厚度檢測。

日本富士工 FUJIWORK 緊湊型連續薄膜測厚儀日本富士工 FT-D200 緊湊型連續薄膜測厚儀，分 0.1μm 內置屏標準款與 0.01μm 高精密 FT-D200H；電動自動送料實現穩定連續厚度測量，0.45N 可調測試壓力，配套 PC 軟件采集厚度曲線，量程 10~500μm，適配鋰電、光學薄膜實驗室批量厚度檢測。

日本富士工 FUJIWORK 全自動連續薄膜測厚儀日本富士工 FT-A200H/HR 連續薄膜測厚儀，0.01μm 超高分辨率，全自動走料實現連續厚度檢測；0.3N 可調測試壓力，RS232 + 模擬雙路數據輸出，分 10~200μm 與 3~100μm 兩款量程，適配鋰電隔膜、超薄光學膜實驗室精密批量厚度檢測。